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FTIR 傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜分析系統(tǒng) 紅外光譜儀 詳細(xì)摘要: Bruker FTIR 傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜分析系統(tǒng)-利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2023-11-09 參考價: 面議 在線留言 -
NanoTest Vantage(微)納米材料力學(xué)性能綜合測試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 英國MML(微)納米材料力學(xué)性能綜合測試系統(tǒng) NanoTest Vantage, 可以完成微納米尺度上材料力學(xué)性能測試和表征,用于產(chǎn)品的研究和開發(fā)??梢杂糜诨炷?..
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-23 參考價: 面議 在線留言 -
SmartLab 智能 X 射線多晶衍射儀 詳細(xì)摘要: 日本理學(xué) XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab,是當(dāng)今世界性能的多功能的 X 射線衍射儀,它采用了理學(xué)的 CBO 交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動識別所有光學(xué)組...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-23 參考價: 面議 在線留言 -
KLA納米壓痕儀 G200, G200X,iMicro 詳細(xì)摘要: Nano Indenter G200Nano Indenter G200系統(tǒng)專為各種材料的表征和開發(fā)過程中進(jìn)行納米級測量而設(shè)計(jì)。 該系統(tǒng)是一個*可升級,可擴(kuò)展且...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-23 參考價: 面議 在線留言 -
Helios 5 CX 掃描電鏡 詳細(xì)摘要: Thermo Scientific Helios 5 D ualBeam 產(chǎn)品系列憑借其的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征,重新定義了樣品制...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-23 參考價: 面議 在線留言 -
Miniflex 600 X 射線衍射儀 詳細(xì)摘要: Rigaku日本理學(xué)臺式 XRDX 射線衍射儀 Miniflex 600,外型小巧方便,具有近于分析儀器的測試性能,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域,是...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-23 參考價: 面議 在線留言 -
Smartlab SE 智能多功能X射線衍射儀 詳細(xì)摘要: 日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE, 高自動化、多功能衍射儀, 精于形,智于心,易用、智能的全功能X射線衍射儀
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-23 參考價: 面議 在線留言 -
JSM-IT800SHL場發(fā)射掃描電鏡 詳細(xì)摘要: JSM-IT800SHL 是日本電子株式會社(JEOL) 2020 年推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 JEOL 熱場發(fā)射掃描電鏡 JSM-7900F 的大束流,高...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-23 參考價: 面議 在線留言 -
Hysitron TI 980 納米壓痕儀 詳細(xì)摘要: BRUKERHysitron TI 980 TriboIndenter 加速納米力學(xué)研究進(jìn)入更高階段,同時具有的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度?;诤K紕?chuàng)幾...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-22 參考價: 面議 在線留言 -
ECHO-VS 超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要: 美Sonix 超聲波掃描顯微鏡 ECHO-VS,是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備, 掃描分辨率小于1微米
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-22 參考價: 面議 在線留言 -
ECHO Pro 全自動超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要: 美 Sonix 全自動超聲波掃描顯微鏡ECHO Pro , 批量 Tray盤和框架直接掃瞄, 編程自動判別缺陷, 高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置, 自動烘干.
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-22 參考價: 面議 在線留言 -
ECHO LS超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要: 美Sonix超聲波掃描顯微鏡 ECHO LS,可檢測最小 0.05 微米的缺陷,它是一款的檢測 bump, 堆疊芯片(三維封裝),復(fù)雜 flipchip 和傳統(tǒng)...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-22 參考價: 面議 在線留言 -
AutoWafer Pro 晶圓檢測設(shè)備 詳細(xì)摘要: 美SonixAutoWaferPro晶圓檢測設(shè)備,專為全自動晶圓檢測設(shè)計(jì)的機(jī)型,使用于 200 和 300MM晶圓。
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-22 參考價: 面議 在線留言 -
Contour X 白光干涉光學(xué)輪廓儀 詳細(xì)摘要: 布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-22 參考價: 面議 在線留言 -
JSM-7610FPlus 冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要: JSM-7610FPlus,用于納米科學(xué)的肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡, 是一款采用半浸沒式物鏡、擁有超高分辨率的場發(fā)射掃描電子顯微鏡,能觀察微細(xì)結(jié)構(gòu)和進(jìn)行微區(qū)元...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-22 參考價: 面議 在線留言 -
ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀 詳細(xì)摘要: ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-22 參考價: 面議 在線留言 -
WCT-120+Suns-Voc少子壽命測試儀 詳細(xì)摘要: sinton少子壽命測試儀WCT-120+Suns-Voc,硅片少子壽命測試系統(tǒng),采用了*的測量和分析技術(shù),包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC)測量方法??伸`敏地反...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-21 參考價: 面議 在線留言 -
JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀 詳細(xì)摘要: JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀,JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-20 參考價: 面議 在線留言 -
EVO 10德國ZEISS高分辨電子掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要: ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡-EVO 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡,提高樣品的成像分辨率,提供更多表面細(xì)節(jié)信息,EVO 電鏡廣泛應(yīng)用于材料和生命...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-20 參考價: 面議 在線留言 -
nano-FTIR納米傅里葉紅外光譜儀 詳細(xì)摘要: 德國neaspec 納米傅里葉紅外光譜儀nano-FTIR:具有10nm空間分辨率的納米級紅外光譜儀,散射型近場光學(xué)技術(shù)發(fā)展出來的nano-FTIR納米傅里葉紅...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2021-07-20 參考價: 面議 在線留言