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詳細介紹
Hysitron TI 980 TriboIndenter
加速納米力學研究進入更高階段
布魯克的海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter同時具有的性能、靈活性、可信度、實用性和速度?；诤Ｋ紕?chuàng)幾十年的技術創(chuàng)新，它為納米力學表征帶來了高水平的性能、功能和易用性。TI 980達到了一臺優(yōu)異納米力學測試儀器所需的所有要求，實現了控制上突出的*性和高效性，試驗上的靈活度與可實現性，測量穩(wěn)定性，以及系統設計的模塊化。
*的Performech® II控制模塊和電子設計
。 性能的高速閉環(huán)控制
。 業(yè)界的噪音控制
。集成的帶輸入/輸出信號的多參數控制
。 五百倍于前代產品的力學測試速度
多維度測量耦合
。充分優(yōu)化各個傳感器的特質適用不同測量需要，通過多維傳感器的選擇實現不同測量間的無縫耦合
。 多種有效的測試模塊配置，包括納米/微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、高分辨原位掃描探針顯微鏡成像、動態(tài)納米壓痕和高速力學性能成像等
豐富的系統控制和數據分析軟件
。TriboScan(TM) 10提供了革命性的控制功能，包括XPM超快納米壓痕，SPM+原位掃描探針顯微鏡成像，動態(tài)表面搜索，全自動系統校準和創(chuàng)新的測試程序
。Tribo iQ (TM)提供了強大的數據處理、分析和畫圖功能，并具有可編程數據分析模塊和自動生成的定制測試報告功能。
極大的靈活性和具有前瞻性的表征潛質
。多級別的防護罩提供了*環(huán)境隔絕能力，并具有用于將來的升級可擴展接口
。樣品臺提供了機械、磁性和真空固定方式，適用于各種樣品
保持處于材料研究和開發(fā)的
海思創(chuàng)從1992年起就在范圍內處于納米力學和納米摩擦學表征的位置。通過與研究人員和工程師的持續(xù)合作，布魯克理解您的*需求，通過創(chuàng)新的技術幫助您解決當下和將來面臨的材料挑戰(zhàn)。海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter是這些努力的集大成者。它提供了的性能，能滿足您持續(xù)更新的材料表征需求。
簡潔、高速的自動控制
系統自動校正使得每次測試都無懈可擊
。 針尖面積函數自動校正
。 傳感器自動校正
。壓針和光學系統校正
自動測試程序
。快速、多樣品自動測試功能實現高通量表征
。 智能化自動程序確保用戶選擇正確的針尖
。 高分辨多尺度成像結合全尺寸樣品的光學搜索，
極大簡化測試流程
的噪音水平，實現真正納米尺度表征
。從微米到幾個納米的多尺度測量
。 納牛級別的力噪音水平和小于90%原子直徑的位移測量能力，實現幾乎任何材料的定量表征
。系統可實現超過6個數量級的力測量和10個數量級的位移測量
。力和位移噪音水平保證在客戶現場安裝時實現
的反饋控制速率
精確控制測試過程
。實現精度、可信度和重復性的真正定量納米力學和納米摩擦學表征
。 特殊的力和位移反饋控制方法用于海思創(chuàng)的傳感器-專門針對海思創(chuàng)傳感器物理特性開發(fā)的力與位移反饋控制算法
。每隔0.013毫秒實現一次完整反饋控制，使得系統能測量快速瞬態(tài)過程，并對其作出反饋，真正實現用戶的測試意圖-每隔0.013毫秒實現一次完整的感知-分析-控制的循環(huán)，使得系統能對瞬態(tài)過程進行測量與反饋，以此重現用戶定義的測試方式
在納米力學測試上一步
nanoDMA III：動態(tài)納米壓痕
布魯克的nanoDMA III是強大的動態(tài)納米壓痕技術。它提供了彈/塑性和粘彈性隨著壓入深度、頻率和時間的變化關系。
。 全面表征各種材料的普適性方法，從較軟的聚合物到硬質鍍層都能適用
。 集成直流和交流調制使得從初始接觸點開始就能實現納米尺度動態(tài)性能的可靠、定量表征
。 原位參考頻率法校正溫漂使得長時間測試的精度大大提高
XPM：快速力學性能成像
不論是測量分辨率和精度，還是測量速度，XPM都是納米力學測試的業(yè)界新。有了XPM，原來可能需要一整年才能獲得的數據，現在只需要一個下午就能獲得。這些的性能是通過以下三個業(yè)界的技術實現的。1）高帶寬靜電激勵傳感器；2）快速控制和數據采集電子系統；3）自上而下的原位掃描探針顯微鏡成像。這些技術聯用能實現每秒六次納米壓痕測試，從而獲得全面的定量納米力學性能圖譜以及性能分布的統計數據。
更少時間測量更多參數
。 超高速定量力學性能測量（每秒6次測量）
。 快速、高分辨空間硬度和模量分布統計
。 一分鐘內可靠完成針尖函數自動校正
。 比傳統納米壓痕測試快500倍的數據采集速率
。 xSol 環(huán)境控制腔及載臺，可實現環(huán)境條件下高通量測量
SPM+實現納米力學測試前后的準確原位成像
布魯克的掃描納米壓痕技術使用同一根探針實現樣品表面形貌成像和納米壓痕測試。這種方法實現了的定位精度，并且可以在納米壓痕測試后立即對樣品塑性形變進行成像，加快測試速度。
。 高定位精度（+/-10nm）
。 可以從64x64到4096x4096范圍內設定掃描分辨率
。 可以對各種高長寬比的特征形貌進行不同X-Y分辨率成像
。 業(yè)界的納米力學性能成像分辨率和調色板
。 可以和摩擦力成像，nanoDMA III，nanoECR和xSol環(huán)境控制腔等聯用
強大的系統控制和分析
TriboScan 10：強大的測試靈活性提供了無限的測試可能性
。 將布魯克納米壓痕全套測試技術集成到一個直觀的軟件內
。 基于標簽頁架構的軟件設計使得用戶可以方便的使用軟件功能
。靈活的測試過程分段定義方法提供了適用于所有測試模式的優(yōu)異控制
TriboIQ: 可編程數據分析程序
。易用的操作界面，從簡單到復雜的可定制數據分析包
。 直觀的數據組織和分析流程，簡單點擊即可生成數據報告
。 直觀可自定義的數據處理和分析模塊
。 開放式架構使得多用戶合作更加容易
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