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分子束外延沉積速率監(jiān)測(cè)/控制系統(tǒng) 控制器 詳細(xì)摘要： Hiden’s XBS system provides in-situ monitoring of multiple sources with real-tim...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2024-10-06 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS 詳細(xì)摘要： 品牌：Hiden 型號(hào)：TOF-qSIMS 制造商：Hiden Analytical Ltd 產(chǎn)地： 英國(guó)
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-09 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
高級(jí)朗繆爾探針 詳細(xì)摘要： A system for the analysis of secondary positive and negative ions from solid sam...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-09 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
原子散亂表面分析儀器 詳細(xì)摘要： Pascal Sputtering system is suitable For Accurate Multi Layer Deposition，Higher ...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
激光分子束外延鍍膜系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： The laser MBE is very suitable for the atomic layer controlled growth of oxides ...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Ar/O2離子槍 詳細(xì)摘要： The IG20 features a high brightness electron impact gas ion source which is desi...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
銫離子槍 詳細(xì)摘要： The IG5C features a low power, high brightness, surface ionisation source couple...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
二次離子/濺射中性粒子質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要： The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mas...
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二次離子質(zhì)譜探針 詳細(xì)摘要： The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mas...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
二次離子質(zhì)譜工作站 詳細(xì)摘要： The Hiden SIMS Workstation provides for high performance static and dynamic SIMS...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
超高真空TPD工作站 詳細(xì)摘要： The TPD Workstation features a multiport UHV chamber with heated sample stage co...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
等離子體刻蝕終點(diǎn)檢測(cè)儀 詳細(xì)摘要： The IMP-EPD is a differentially pumped, ruggedised secondary ion mass spectromet...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
EQP等離子體質(zhì)量和能量分析質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要： The EQP system directly measures mass and energy of both positive and negative p...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
PSM等離子體質(zhì)量和能量分析質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要： Hiden plasma probes measure some of the key plasma parameters and provide detail...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
過程氣體分析質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要： The HPR-30 is a residual gas analyser configured for analysis of gases and vapou...
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