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二次離子質(zhì)譜探針

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更新時間:2021-07-08 15:43:30瀏覽次數(shù):333

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產(chǎn)品簡介

The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

詳細(xì)介紹

EQS 是差式泵式二次離子質(zhì)譜(SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe),可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用的SIMS 探針,便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。

 

·光柵控制,增強深度分析能力
·所有能量范圍內(nèi),離子行程的最小擾動,及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器




 

·質(zhì)量數(shù)范圍:   300amu,500amu1000amu

·檢測器:         離子計數(shù)探測器、正負(fù)離子探測器、10cps

·質(zhì)量過濾器:   3F四級桿

·桿直徑:         9mm

·加熱:      250

·離子源:         電子轟擊,可用于SNMSRGA的單根燈絲

MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)

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