微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏...

HAST離子遷移CAF絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1...

CAF-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，是一種可信賴性的試驗設(shè)備，原理是印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路...

Bias-HAST高加速老化 偏壓老化測試系統(tǒng)，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1...

PCB-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1...

HAST高加速老化測試系統(tǒng)，高加速應(yīng)力測試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時間，以測量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳...