微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST 返回列表頁

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微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST

微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是一種用于評估微波器件在一定的條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實(shí)際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過程。

微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST

·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制

·實(shí)時監(jiān)測每個試驗(yàn)器件的Id、  Ig

·控制上、下電時序

·全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中，  可輸出Excel

·試驗(yàn)報表和繪制全過程漏電流  IR變化曲線

微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST

適用于各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行溫濕度下反偏試驗(yàn) 。

驅(qū)動檢測板 6塊（1塊驅(qū)動板可帶2塊老化板）

電源 Vds：2臺 ，

Vgs：正、負(fù)電源各2臺

二極Vgs電源 40路/板

試驗(yàn)容量 240顆（可以按要求定制工位）

老化實(shí)驗(yàn)板 專用耐高溫高濕基板、老化測試座，接口鍍金處理。

上位機(jī) 工業(yè)級電腦主機(jī)、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標(biāo)

聚焦超低溫，低溫，環(huán)境模擬，可靠性輔助測試解決方案

超過16年行業(yè)技術(shù)沉淀，掌握核心技術(shù)

多項技術(shù)，細(xì)分領(lǐng)域獨(dú)角獸

持續(xù)的創(chuàng)新產(chǎn)品和服務(wù)，為客戶提供更加滿意的體驗(yàn)

速度：1小時內(nèi)響應(yīng)，24小時內(nèi)提供實(shí)施方案。

專業(yè)：多名工程師與熱流儀Temperature Cycling System相伴10多年。

維修：原廠標(biāo)準(zhǔn)服務(wù)。

料件：原廠品牌料件。

保障：提供交換式維修。

信息：設(shè)備檔案更新與備份，做客戶設(shè)備的管家。