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HAST高加速老化測(cè)試系統(tǒng)

高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間，以測(cè)量元件的可靠性，無(wú)論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測(cè)試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測(cè)試。腐蝕型故障加速，在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。

偏置高加速壓力測(cè)試（BHAST）利用與HAST測(cè)試相同的變量（高壓，高溫和時(shí)間），但增加了電壓偏差。BHAST測(cè)試的目標(biāo)是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕，從而加快測(cè)試周期。HAST測(cè)試條件包括110或130°C的溫度，85%RH的濕度和96小時(shí)的測(cè)試運(yùn)行時(shí)間。一旦高度加速的壓力測(cè)試完成，測(cè)試的樣品將用防潮袋返回給客戶，并帶有測(cè)試時(shí)間標(biāo)簽。HAST測(cè)試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110，“高加速溫度和濕度壓力測(cè)試（HAST）

HAST高加速老化測(cè)試系統(tǒng)

又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題的試驗(yàn)設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過(guò)程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗(yàn)等行業(yè)。

HAST高加速老化測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品特點(diǎn)

1.HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)采用較新優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方，做工精細(xì)

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)

3.大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng),全自動(dòng)補(bǔ)水，試驗(yàn)不中斷

4.與試樣數(shù)量相吻合的試樣信號(hào)施加端了

5.采用觸摸屏，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能

6.采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)

7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長(zhǎng)

8.多項(xiàng)安全保護(hù)措施,故障報(bào)警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

9.可根據(jù)客戶不同需求定制專用HAST試驗(yàn)設(shè)備（如: HAST內(nèi)箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測(cè)試需要）

HAST高加速老化測(cè)試系統(tǒng)

滿足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 規(guī)范要求

3種控制模式包含：不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤(rùn)飽和控制。

高壓加速老化試驗(yàn)箱采用優(yōu)化設(shè)計(jì)，美觀大方、做工精細(xì)，對(duì)應(yīng) IEC60068-2-66 條件

具有直接測(cè)量箱內(nèi)溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗(yàn)結(jié)束后壓力溫度的急變，保證試驗(yàn)結(jié)果的正確。

JESD22-A118 （無(wú)偏）

JESD22-A110 （偏置）

IEC 60068-2-66