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JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

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公司名稱深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/7/16 20:18:00
訪問(wèn)次數(shù)395

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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司，經(jīng)過(guò)十多年的紫外光專業(yè)技術(shù)沉淀，可以根據(jù)客戶特殊要求提供定制化服務(wù)，研發(fā)設(shè)計(jì)組裝：紫外臭氧清洗機(jī)（UV清洗機(jī)），準(zhǔn)分子清洗機(jī)，等離子清洗機(jī)/去膠機(jī)等科研以及生產(chǎn)設(shè)備，擁有自主品牌及注冊(cè)商標(biāo)。同時(shí)我們代理歐美日多家高科技設(shè)備廠家高性價(jià)比產(chǎn)品, 始終堅(jiān)持創(chuàng)新, 技術(shù), 服務(wù), 誠(chéng)信的企業(yè)文化，為廣大中國(guó)及海外客戶提供的儀器設(shè)備和材料的整體解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體/微納，光電/光學(xué), 生命科學(xué)/生物醫(yī)療等領(lǐng)域的研發(fā)和生產(chǎn), 客戶群體例如高等院校, 研究所，科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等。半導(dǎo)體/微納，光電/光學(xué) 產(chǎn)品主要有：德國(guó)ParcanNano（Nano analytik）針尖光刻機(jī)，電子束光刻機(jī), 激光直寫光刻機(jī)，紫外光刻機(jī)，微納3D打印機(jī)，德國(guó)Sentech刻蝕機(jī)/鍍膜機(jī)及原子沉積，英國(guó)HHV磁控/電子束/熱蒸發(fā)鍍膜機(jī)，微波離子沉積機(jī)MPCVD，芬蘭Picosun原子層沉積機(jī)，電子顯微鏡, 德國(guó)Bruker布魯克原子力顯微鏡/微納表征/光譜儀, 美國(guó)THERMO FISHER賽默飛光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀，美國(guó)Sonix超聲波顯微鏡, 德國(guó)耐馳Netzsch熱分析儀, 德國(guó)Optosol吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀, 日本SEN UV清洗機(jī)/UV清洗燈，美國(guó)Jelight紫外清洗機(jī)/紫外燈管，德國(guó)Diener等離子清洗機(jī)等*技術(shù)產(chǎn)品。生命科學(xué)/生物醫(yī)療產(chǎn)品主要有：PCR儀，核酸質(zhì)譜儀/核酸檢測(cè)儀，電子顯微鏡，紫外設(shè)備，光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀，生物芯片，試劑，實(shí)驗(yàn)耗材等。并可依據(jù)客戶需求，研發(fā)定制相關(guān)產(chǎn)品。我們以高性價(jià)比的優(yōu)勢(shì)為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)，為高等院校, 研究所，科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等客戶提供儀器設(shè)備和材料。

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電子顯微鏡

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JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡產(chǎn)品信息

JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

產(chǎn)品規(guī)格：

超高分辨極靴	高分辨極靴
分辨率
TEM點(diǎn)分辨率	0.19 nm	0.23 nm
STEM-HAADF 像	0.14 nm @冷場(chǎng)槍	0.16 nm @冷場(chǎng)槍
STEM-HAADF 像	0.16 nm @熱場(chǎng)槍	0.16 nm @熱場(chǎng)槍
加速電壓	200 , 80 kV	200 , 80 kV
主要選配件	能譜儀（EDS）、電子能量損失譜儀（EELS）、CCD相機(jī)、TEM/STEM斷層掃描系統(tǒng)

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

外觀設(shè)計(jì)精煉

· 精煉的外型，全新的視覺(jué)感受。
為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI，使操作更加直觀方便。
JEOL長(zhǎng)年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn)，與舊機(jī)型相比，電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。

四級(jí)聚光鏡系統(tǒng)

· 現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場(chǎng)/暗場(chǎng)的TEM成像到使用各種檢測(cè)器的STEM技術(shù)。該設(shè)備采用新型四級(jí)聚光鏡照射光學(xué)系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system”，通過(guò)分別控制電子束強(qiáng)度和匯聚角，能滿足各種研究的需求。

掃描系統(tǒng)

· JEM-F200可以實(shí)現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析，該設(shè)備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System” 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能（選配）。

皮米樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)

· JEM-F200 采用能以皮米級(jí)步長(zhǎng)移動(dòng)樣品臺(tái)的Pico stage drive（不用壓電驅(qū)動(dòng)），能在寬動(dòng)態(tài)范圍移動(dòng)視野-從樣品的整個(gè)柵網(wǎng)視野移動(dòng)到原子級(jí)圖像視野移動(dòng)都能進(jìn)行。

SpecPorter（自動(dòng)插入和拔出樣品桿的裝置）

· 插入和拔出樣品桿，對(duì)電鏡初學(xué)者來(lái)說(shuō)一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在的位置上，只用一個(gè)按鈕即能安全地插入或拔出。

改進(jìn)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍

· JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍（選配），該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析，高亮度的電子束縮短了分析時(shí)間，并且還降低了來(lái)自光源的色差，實(shí)現(xiàn)了高分辨率的觀察。

雙能譜（SDD）

· JEM-F200能同時(shí)安裝兩個(gè)大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測(cè)器（SDD）（選配件）。憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對(duì)樣品的損傷更小。

環(huán)保節(jié)能

· JEM-F200是個(gè)標(biāo)配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時(shí)的1/5，可以在裝置不運(yùn)行時(shí)，以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設(shè)備具有排程功能，能在的時(shí)間將電鏡從ECO模式恢復(fù)到工作狀態(tài)。

關(guān)鍵詞：電子顯微鏡顯微鏡 CCD相機(jī)