詳細摘要： 動態(tài)參數測試系統 華科智源該套測試設備主要可測試以下參數：適用于電流不超過1500A、電壓不超過3500V的IGBT開關時間的測試。設備的相關電壓、電流等參數可...

詳細摘要： 半導體分立器件測試系統 華科智源采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。。

詳細摘要： HUSTEC-580*檢測儀系統 華科智源系統掃描需要檢測的SMT貼片*PCB，智能框獲取PCB實物掃描圖片，導入BOM清單和PCB元件貼片坐標。軟件對PCB圖...

詳細摘要： 雪崩能量測試儀廠家 華科智源ITC55100雪崩能量測試儀是原成功產品ITC5510的升級版本，它能執(zhí)行ITC5510系列的所有測試，同時增加了許多功能，如提高...

詳細摘要： 功率循環(huán)測試儀系統 華科智源 該系統是一套動態(tài)綜合測試系統、測試參數多、精度高、 具有過流、過熱、水壓不足等保護功能。具有連續(xù)工作的特點，測試程序由計算機控制，...

詳細摘要： 臺式桌面型SMT*檢測儀系統 華科智源 將BOM，坐標及圖紙進行完美核對，實時顯示檢測情況，避免漏檢，可方便根據誤差范圍 對元件值合格值自動判定，對多貼，錯料，...

詳細摘要： IGBT功率器件動態(tài)參數測試儀 華科智源主機可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試，包括對半導體器件絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管，雙極型器件的測...

詳細摘要： 功率半導體參數測試系統 華科智源 適合各大研究所做元器件檢驗以及在線開發(fā)器件做生產測試。系統可擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流的測試能力和增加測試品種范圍。...

詳細摘要： 半導體分立器件測試儀 華科智源升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A;采用脈沖測試法，脈沖寬度為...

詳細摘要： 雪崩能量測試儀 華科智源 主要用于 IGBT、FRD、MOS器件單脈沖及重復脈沖雪崩能量測試。測試電流 200A，電壓 4500V，雪崩能量可達2000J。測試...

詳細摘要： IGBT靜態(tài)測試儀 華科智源 作為精密儀器引進項目，系統嚴格按照產品之標準，全部選用可靠的元器件。系統嚴格按照檢驗標準進行測試檢驗，確保系統的穩(wěn)定性和可靠性。所...

詳細摘要： IGBT動態(tài)參數測試系統 華科智源 該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實...

詳細摘要： 智能*檢測系統 華科智源 可同時生成SMT*工藝圖紙，方便品管或維修人員使用 ；快速導入BOM及XY數據，全自動獲取規(guī)格值與誤差。

詳細摘要： 華科智源 HUSTEC-600SMT*檢測儀減自動防呆，絲印對比，極性和方向自動判斷，自動生成測試報告，一塊300-500的板只需20-30分鐘即可完成測試，減...

詳細摘要： 一：主要特點華科智源IGBT靜態(tài)參數測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管，MO...

詳細摘要： 產品簡介Introducion 大功率IGBT測試設備HUSTEC-1600A-MT是一款大功率器件參數測試儀，可用于IGBT單管及模塊，SIC器件，MOS管，...

詳細摘要： 華科智源大功率IGBT模塊測試系統簡介 華科智源大功率IGBT測試儀我公司所設計生產的IGBT測試系統具備下列測試能力：華科智源大功率IGBT模塊測試儀

詳細摘要： 華科智源大功率IGBT模塊測試系統簡介我公司所設計生產的IGBT測試系統具備下列測試能力：可用于IGBT模塊封裝測試，電動車IGBT模塊檢測，電動車電控部分IG...

詳細摘要： IGBT動態(tài)參數測試儀測試方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9: 200 及GB4023-83 等相關標準。采用計算機記錄測試結果，并轉...

詳細摘要： 華科智源大功率IGBT測試系統設備主要針對IGBT及MOS管的測試儀，適用于芯片設計，產線封裝測試及新能源汽車，風力發(fā)電，地鐵交通等領域的大功率器件及模塊測試，...