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日立 超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 專(zhuān)門(mén)為電子束敏感樣品和需300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-06-19 參考價(jià): 面議 在線留言 -
日立 超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,而且注重其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8700作為一款面向新時(shí)代的SEM,在日立電...
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日立 超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus系列 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 現(xiàn)有機(jī)型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合,衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220...
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日立 超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU8600系列 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列...
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日立 熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU5000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 創(chuàng)新的“EM Wizard"界面更加直觀,僅需要“點(diǎn)擊"即可得到的圖像。 超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個(gè)新水平。
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日立 光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng)MirrorCLEM 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 MirrorCLEM是一個(gè)可簡(jiǎn)便觀察光學(xué)顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統(tǒng)。
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日立 超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫(huà)質(zhì)圖像,而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外,它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。
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日立 TM系列專(zhuān)用能譜儀(EDS)AZtec系列 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 1、圖標(biāo)按操作流程順序排列,操作簡(jiǎn)便 2、通過(guò)對(duì)應(yīng)譜圖可簡(jiǎn)單確認(rèn)元素重疊狀況 3、通過(guò)TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準(zhǔn)確顯示(AZtecOne)...
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日立 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 “的SEM更為緊湊" 寬幅僅為45 cm的緊湊型的設(shè)計(jì),仍具備4.0 nm的圖像分辨率。 全新開(kāi)發(fā)的用戶界面和電子光學(xué)系統(tǒng)讓您深切體驗(yàn)其高性能。
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日立 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SU3800 SU3900 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性,結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能,可高效發(fā)揮其高性能。SU3900標(biāo)配多功能超大樣品倉(cāng),可應(yīng)對(duì)...
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日立 TM系列專(zhuān)用能譜儀(EDS)Quantax75 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 操作簡(jiǎn)單且直觀
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日立 球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 專(zhuān)用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國(guó)CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微...
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日立 臺(tái)式掃描電鏡 TM4000II TM4000PlusII 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。 我們以“更高畫(huà)質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開(kāi)發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的...
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日立 球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過(guò)單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX...
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日立 透射電子顯微鏡HT7800系列 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 "RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列,包含配備高襯度透鏡,實(shí)現(xiàn)大視野、高對(duì)比度觀察的HT7800和配備同級(jí)別分辨率透鏡的HT7830。 全...
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日立 高性能FIB-SEM系統(tǒng)Ethos NX5000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 “Ethos"采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場(chǎng)發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復(fù)合透鏡,不但可以在低加速電壓下實(shí)現(xiàn)高分辨觀察,還可以在FIB加工時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)...
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日立 高精度實(shí)時(shí)三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)NX9000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 通過(guò)自動(dòng)重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察,采集一系列連續(xù)截面圖像,并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。 采用的鏡筒布局,從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的...
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日立 FIB-SEM三束系統(tǒng)NX2000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 在設(shè)備及高性能納米材料的評(píng)價(jià)和分析領(lǐng)域,F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。 近來(lái),目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。 日立高新...
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日立 高性能聚焦離子束系統(tǒng) MI4050 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng):新型電子光學(xué)系統(tǒng),可達(dá)到高水準(zhǔn)的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率,...
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日立 微型采樣系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 微型采樣方法(已在日本和美國(guó)取得)已在半導(dǎo)體器件分析領(lǐng)域成為一款工具,它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時(shí)左右即可獲得一個(gè)微小樣品,以便于STEM分...
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