日立 臺(tái)式掃描電鏡 TM4000II TM4000PlusII

產(chǎn)品介紹：

臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。

我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念，開(kāi)發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

觀察圖像3分鐘?？裳杆佾@得所需數(shù)據(jù)，并制作報(bào)告。

觀察與分析的靈活性

Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告

       只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報(bào)告

即便是絕緣物樣品，也無(wú)需預(yù)處理，就可直接進(jìn)行觀察。

“靜電減輕模式"可抑制靜電現(xiàn)象

對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的樣品，可使用“靜電減輕模式"，在抑制靜電的狀態(tài)下進(jìn)行觀察。

只需用鼠標(biāo)在軟件上點(diǎn)擊即可切換到“靜電減輕模式"。

可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察

對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品，可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察。

可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像（表面形狀）觀察。

無(wú)需預(yù)處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面

       不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品，還可以在無(wú)預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品?？煽焖龠M(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。

高感度低真空二次電子檢測(cè)器

       采用高感度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)。通過(guò)檢測(cè)由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過(guò)控制該檢測(cè)器，來(lái)檢測(cè)電子照射所產(chǎn)生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。

可支持加速電壓20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。

憑借EDS分析（選配），可進(jìn)行更高計(jì)數(shù)率解析。

通過(guò)加速電壓20 kV，實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化

Multi Zigzag（選配）

可實(shí)現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進(jìn)行SEM觀察。

搭配自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)低倍率，高精度，大范圍的觀察分析。

EM 樣品臺(tái)（選配）

可輕松觀察 STEM 圖像

       與全新開(kāi)發(fā)的 STEM 樣品臺(tái)和高靈敏度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。

       可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。

產(chǎn)品規(guī)格：