會(huì)員.png)
2021-07-20 20:27:42342
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 廠商性質(zhì):其他
- 品牌:
- 所在地區(qū):
進(jìn)入商鋪
在線詢價(jià)圖片描述：
KSIi-Wafer晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，是一款儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標(biāo)準(zhǔn)，手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè)晶圓。在KSIi-Wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)
圖片來(lái)源：
