EM-09100IS 離子切片儀圖片

日本JEOLEM-09100IS離子切片儀，用于TEM、STEM、SEM、EPMA和AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0到6）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。