賽默飛Orbitrap Exploris 120 高分辨質(zhì)譜儀
使用準(zhǔn)確的 Orbitrap HRAM 結(jié)果進(jìn)行高通量定性和定量分析
m/z 200時(shí)分辨率高達(dá) 120,000 (FWHM),可從復(fù)雜樣品的基質(zhì)干擾中解析更多的目標(biāo)離子
使用可尋址質(zhì)量范圍 m/z 40–3000鑒定并確認(rèn)低至高質(zhì)量的離子
專注于通過更快的方法設(shè)置推動(dòng)結(jié)果
適用于各種分析物和基質(zhì)的即用型方法模板
拖放式用戶界面可加速方法開發(fā)
確保您的實(shí)驗(yàn)室無縫運(yùn)行
對整個(gè)質(zhì)量范圍進(jìn)行單次校準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)< 1 ppm的質(zhì)量精度水平
在復(fù)雜樣品基質(zhì)中完成數(shù)百次進(jìn)樣后仍保持穩(wěn)定性能
Orbitrap 現(xiàn)可用于同位素比值分析
在整個(gè)分析過程中保護(hù)分子內(nèi)同位素信息,并通過結(jié)合軟電噴霧電離 (ESI) 和高分辨率精確質(zhì)量 (HRAM) 靈敏度可確定以前無法獲取的同位素體。
賽默飛Orbitrap Exploris 120 高分辨質(zhì)譜儀
技術(shù)參數(shù):
類型 Orbitrap LC-MS
動(dòng)態(tài)范圍 在單個(gè) Orbitrap 質(zhì)量分析儀光譜范圍內(nèi) > 5000:1
質(zhì)量范圍 40 至 3000 m/z
質(zhì)量準(zhǔn)確度 外部校準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)24小時(shí)內(nèi) <3 ppm RMS 的偏移內(nèi)部所鎖定質(zhì)量校準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)24小時(shí)內(nèi) <1 ppm RMS 的偏移
EASY-IC 實(shí)現(xiàn)至少5天 <1 ppm RMS 的偏移
掃描速率 m/z 200 時(shí)分辨率設(shè)置為 15,000 時(shí),高達(dá) 22 Hz
模擬輸入 通道 1 模擬輸入 (± 10 V)
通道 2 模擬輸入 (± 10 V)
極性切換 一個(gè)全掃描周期* < 700 ms 等于 > 1.4 Hz
一個(gè) tSIM 掃描周期** < 600 ms 等于 >1.6 Hz
* 一個(gè)周期包括在分辨率設(shè)置為 60,000 時(shí)在正離子模式下采集一個(gè)全掃描以及在負(fù)離子模式下采集一個(gè)全掃描
** 在分辨率設(shè)置為 60,000 時(shí)在正離子模式下采集一個(gè)tSIM掃描以及在負(fù)離子模式下采集一個(gè)tSIM掃描
描述 Orbitrap Exploris 120 MS
重量(公制) 120kg(265 lb.),不含數(shù)據(jù)系統(tǒng)、初級真空泵和可選配件
蕞大分辨率 m/z 200 時(shí),高達(dá)120,000
蘇州賽力威 實(shí)力供應(yīng)美國賽默飛世爾Thermo Scientific進(jìn)口儀器設(shè)備 為您提供準(zhǔn)確報(bào)價(jià) 歡迎來電詳詢