對(duì)于塑料薄膜來(lái)講,厚度是影響力學(xué)性能、阻隔性的因素之一,需要在質(zhì)量和成本上的指標(biāo)。塑料薄膜厚度是指一定條件下測(cè)得的試樣的界面距離。鑒定標(biāo)準(zhǔn)只適用于光面、未經(jīng)壓花的薄膜。厚度測(cè)定的目的是為了弄清薄膜厚度的差異,同時(shí),也是進(jìn)行其它測(cè)試時(shí)所必需的數(shù)據(jù)之一。測(cè)定時(shí)所施加壓力的大小具有重要意義,薄膜越軟則影響越大,軟質(zhì)薄膜的測(cè)定壓力應(yīng)為0.25公斤/厘米2,硬質(zhì)薄膜為3公斤/厘米2。大于上述測(cè)定壓力,薄膜會(huì)受壓縮,另一方面,也應(yīng)防止將測(cè)定器過(guò)快觸及被測(cè)薄膜,否則,使軟質(zhì)薄膜變形。上述情況均會(huì)影響測(cè)定結(jié)果。測(cè)試時(shí)必須將薄膜平整地放在測(cè)定儀的測(cè)定位置上,必須定期復(fù)核厚度測(cè)定器的準(zhǔn)確度。
塑料薄膜厚度檢測(cè)用什么儀器設(shè)備?
數(shù)顯臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀THK-01主要適用于薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片、紙板等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測(cè)量,分辨率達(dá)0.1μm,本厚度測(cè)定儀采用接觸式測(cè)試原理,截取一定尺寸試樣,測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上,依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等單位。
數(shù)顯臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀THK-01THK-01主要參數(shù)
通用名稱:測(cè)厚儀
測(cè)量范圍:0~2mm(標(biāo)配);0~6mm、0~12mm(選配)
分辨率:0.1μm
測(cè)試速度:1~25次/min
測(cè)量頭平行度:±2μm(機(jī)械調(diào)整,量塊校驗(yàn))
重復(fù)性:0.3μm
測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜)、50±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm²(薄膜); 200mm² (紙張);
薄膜、紙張任選一種,非標(biāo)可定制
電源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
約凈重:15Kg
參照標(biāo)準(zhǔn)
GB/T6672(塑料薄膜與薄片厚度的測(cè)定機(jī)械測(cè)量法)、GB/T451.3(GB/T451.3紙張和紙板厚度測(cè)定方法)、GB/T6547(瓦楞紙板的厚度測(cè)量準(zhǔn)則)、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法》
測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家