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真空紫外光譜儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號(hào)PGS/PGM 200
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2022/6/30 16:03:07
  • 訪問次數(shù)563
產(chǎn)品標(biāo)簽:

紫外光譜儀真空紫外光譜儀

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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國(guó)首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會(huì)上的干涉儀、光彈性測(cè)量?jī)x      
 · 1962年 雙級(jí)光譜儀和1400系列雙級(jí)激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎(jiǎng))      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎(jiǎng)),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級(jí)校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國(guó)CNRS佳橢偏儀獎(jiǎng)    
 · 1998年 可配CCD檢測(cè)器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng))    
 · 1998-1996年 收購美國(guó)品牌SPEX、法國(guó)Dilor和法國(guó)Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國(guó)宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會(huì)獲得Editor佳新品獎(jiǎng)  
 · 2002-2003年 收購德國(guó)Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國(guó)宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測(cè)器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”

image.png    

HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國(guó)SPEX公司和1995年合并了法國(guó)Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國(guó)、美國(guó)、日本、英國(guó)、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測(cè)器,CCD檢測(cè)器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
HORIBA PGS/PGM 200真空紫外光譜儀憑借優(yōu)異的消像差設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)一機(jī)兩用,配合單通道探測(cè)器作為單色儀,配合CCD使用作為攝譜儀。光路由一片平面光柵和一片超環(huán)面鏡組成,為紫外光譜分析優(yōu)化設(shè)計(jì)。掠入射光路設(shè)計(jì)將可探測(cè)波長(zhǎng)拓展到4nm,與此同時(shí),攝譜儀模式下焦平面垂直于出射光軸,使CCD上接受的光通量大化。
真空紫外光譜儀 產(chǎn)品信息

HORIBA PGS/PGM 200真空紫外光譜儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介

PGS/PGM 200光譜儀憑借優(yōu)異的消像差設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)一機(jī)兩用,配合單通道探測(cè)器作為單色儀,配合CCD使用作為攝譜儀。光路由一片平面光柵和一片超環(huán)面鏡組成,為紫外光譜分析優(yōu)化設(shè)計(jì)。掠入射光路設(shè)計(jì)將可探測(cè)波長(zhǎng)拓展到4nm,與此同時(shí),攝譜儀模式下焦平面垂直于出射光軸,使CCD上接受的光通量大化。
 
HORIBA PGS/PGM 200真空紫外光譜儀技術(shù)特點(diǎn)
    HJY的消像差平面光柵結(jié)合超環(huán)面鏡,同時(shí)兼顧高分辨率和低像差。
    在軸設(shè)計(jì),光路易準(zhǔn)直。
    出射光直射CCD表面,光通量大。
    只需更換出射狹縫和法蘭,即可實(shí)現(xiàn)單色儀和攝譜儀之間的切換,一機(jī)兩用。
    支持超高真空10-9mbar,可接入同步輻射裝置。

1.jpg

典型應(yīng)用
    X射線光電子能譜
    等離子體物理研究
    高次諧波濾波
    紫外反射
    EUV光源表征

技術(shù)指標(biāo)

三塊標(biāo)準(zhǔn)光柵可選

54401010

1800 gr/mm 光柵,攝譜儀模式下

光譜范圍:4-16.5nm (75-310eV) 或 4-26nm (47-310eV)

出射端口色散:0.4-0.68nm/mm

分辨率:0.2nm

54402010

800 gr/mm光柵,攝譜儀模式下

光譜范圍:10-35 nm (35–124eV) 或10-56nm (22-124eV)

出射端口色散:1.0 – 1.14m/mm

分辨率:0.3nm

54406010

450 gr/mm光柵,攝譜儀模式下

光譜范圍:16-65 nm (7–80eV) 或

16-103nm (12-77eV)

出射端口色散:1.7–2.7m/mm

分辨率:0.5nm

光學(xué)設(shè)計(jì)

HJY平面光柵加超環(huán)面鏡光路設(shè)計(jì)

焦長(zhǎng)

200 mm

孔徑

f/17

分辨率

低至0.2nm

波長(zhǎng)驅(qū)動(dòng)

步進(jìn)電機(jī)

高真空

10-6 mbar

真空泵法蘭

DN63 LF

狹縫

測(cè)微狹縫

陣列探測(cè)器法蘭

DN100CF/ICF152

可選項(xiàng)

狹縫

自動(dòng)或固定

超高真空

10-9 mbar,配備DN100CF真空泵法蘭和DN40CF真空計(jì)接口

 

2.jpg

 

單色儀模式下測(cè)得的30.4nm 氦譜線

附件
    前鏡腔,配備兩塊超環(huán)面鏡,實(shí)現(xiàn)光源和單色儀之間的光學(xué)匹配
    后鏡腔,配備兩塊超環(huán)面鏡,實(shí)現(xiàn)單色儀和樣品室之間的光學(xué)匹配
    樣品室,可搭載4塊直徑不大于25mm的樣品
    偏振插片
    制冷機(jī),低至4K
    真空泵

關(guān)鍵詞:真空泵
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