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靈活型CL光譜儀

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公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
品牌HORIBA
型號Flex-CLUE
所在地上海市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2022/6/30 16:05:24
訪問次數(shù)436

產(chǎn)品標(biāo)簽:

CL光譜儀靈活型CL光譜儀

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公司介紹主營產(chǎn)品

成立于1819年，Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中，Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì)，為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品：

· 1900年世博會上的干涉儀、光彈性測量儀
· 1962年雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀
· 1968年商品化全息光柵
· 1973年相差校正全息光柵（榮獲IR100獎）
· 1977年拉曼分子顯微探針（IR100獎），順序掃描型ICP光譜儀
· 1975年全計算機化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機化光子計數(shù)熒光光譜儀
· 1983年離子刻蝕“閃耀”全息光柵
· 1985年光柵型波分復(fù)用器
· 1989年超級校正全息光柵和二維成像光譜儀
· 1996年榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎
· 1998年可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀（獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎）
· 1998-1996年收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司
· 2001年獲得美國宇航局（NASA）頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎”
· 2002年世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀，在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎
· 2002-2003年收購德國Philips橢偏儀公司和IBH（英格蘭）公司
· 2006年美國宇航局（NASA）噴射推進(jìn)實驗室頒發(fā)“運行碳觀測器（OCO）衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎”

HORIBA歐洲總部

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司，完成了公司強強聯(lián)手。

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?，F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。

目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術(shù)支持與科研保障！

展開顯示更多內(nèi)容

科學(xué)儀器：拉曼光譜分析，拉曼光譜設(shè)備，熒光光譜儀，粒度分布儀，粒度分析儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	國產(chǎn)	產(chǎn)品新舊	全新

HORIBA Flex-CLUE靈活型CL光譜儀是一款高性能的CL分析儀器，適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。它基于光纖傳輸，是適用于有限空間的集成化系統(tǒng)。

靈活型CL光譜儀產(chǎn)品信息

HORIBA Flex-CLUE靈活型CL光譜儀儀器簡介：
電子束入射到樣品上，即可用光學(xué)方法接收并分析陰發(fā)光（CL），從而提供樣品詳細(xì)的物理特性。它是一種無損的分析方法，結(jié)合電鏡可提供與形貌相關(guān)的高空間分辨率光譜結(jié)果，是納米結(jié)構(gòu)和體材料的*分析工具。
Flex-CLUE是一款高性能的CL分析儀器，適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。它基于光纖傳輸，是適用于有限空間的集成化系統(tǒng)。

原理圖

HORIBA Flex-CLUE靈活型CL光譜儀主要特點：
● 光纖耦合
● 高效CL信號收集
● 掃描成像、線掃描、點測量
● 多種光柵選項
● 多種焦長光譜儀選項：140mm-320mm
● 光譜范圍：200nm-1000nm或400nm-1700nm

重點應(yīng)用領(lǐng)域：
陰發(fā)光光譜儀（CL）是用來表征材料中的缺陷，元素和雜質(zhì)追蹤的強大分析工具，廣泛適用于各個應(yīng)用領(lǐng)域。

1、材料科學(xué)

● 半導(dǎo)體和光電材料
● 介電/陶瓷
● 氧化物膜
● 玻璃
2、礦物、地質(zhì)
● 碳酸巖
● 晶體
● 金剛石
● 鋯石、方解石、白云石
3、生命科學(xué)

CL光譜及成像：

CL光譜：使用CL測量光譜時，可在電鏡下觀察并選擇待測樣品區(qū)域。	快速CL成像：將掃描電子束與您的光譜儀同步，提供快速成像方案。使用HCLUE系統(tǒng)測量的GaN樣品，測量中使用了超快SWIFTTM成像模式。

礦物樣品中的白云石和磷酸鈣。測量使用Flex-CLUE系統(tǒng)，配備iHR320光譜儀和開放電式CCD探測器。感謝Prof A. Jambon, UPMC France提供數(shù)據(jù)	左圖：使用偽彩色顯示350nm-450nm之間發(fā)射光譜區(qū)。figure 1, Hyperspectral CL mapping 中圖：電鏡下的樣品圖像。figure 2, SE image 右圖：對應(yīng)的光譜，其中不同色彩區(qū)域與左圖中顯示的顏色對應(yīng)。figure 3, CL spectral (RGB)