DSR300微納器件光譜響應度測試系統(tǒng)是一款專用于低微材料光電測試的系統(tǒng)。其功能全面,提供多種重要參數(shù)測試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應速率測試。40μm探測光斑,實現(xiàn)百微米級探測器的光譜祥響應度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試,豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源,例如超連續(xù)白光激光器,皮秒脈沖激光器,半導體激光器,鹵素燈,氙燈等,滿足不同探測器測試功能的要求,是微納器件研究的優(yōu)選。
DSR300微納器件光譜響應度測試系統(tǒng)功能:
■ 光譜響應度■ 外量子效率
■ 單色光/變功率IV
■ 不同輻照度IT曲線(分辨率200ms)
■ 不同偏壓下的IT曲線
■ LBIC,Mapping
■ 線性度測試
■ 響應速率測試
DSR300微納器件光譜響應度測試系統(tǒng)主要技術參數(shù):
三維可調高穩(wěn)定探針臺結構,方便樣品位置調節(jié)