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PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

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公司名稱(chēng)上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
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型號(hào)
所在地
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/8/1 14:47:52
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)459

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上海禹重實(shí)業(yè)有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)禹重科技®）是一家以服務(wù)introduce中國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和檢測(cè)技術(shù)服務(wù)公司，下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心，即分析儀器事業(yè)部、實(shí)驗(yàn)室服務(wù)事業(yè)部、項(xiàng)目開(kāi)發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。目前除上海總部外，我們已建立北京、沈陽(yáng)、太原、長(zhǎng)沙、廣州、青島和成都等分支機(jī)構(gòu)。為客戶(hù)提供更專(zhuān)業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標(biāo)。

禹重科技®作為T(mén)hermo Science（賽默飛）、DIONEX（戴安）、Gilson（吉爾森）和Tekmar（泰克瑪）等品牌的核心代理商，依托（香港）亞測(cè)科技有限公司（Amicrotest Technology Limited），我們將分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶(hù)，為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運(yùn)營(yíng)，提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動(dòng)化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性?xún)x器解決方案，同時(shí)提供儀器配套設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)樣品耗材的銷(xiāo)售，材料測(cè)試等實(shí)驗(yàn)室服務(wù)。

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成分分析儀，表面分析儀，光譜儀

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PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個(gè)原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析。在理論上，該儀器可以在一個(gè)無(wú)限大的質(zhì)量范圍內(nèi)提供很高的質(zhì)量分辨率（在實(shí)踐中通常是大約 10000amu）。

PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀產(chǎn)品信息

PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個(gè)原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析。在理論上，該儀器可以在一個(gè)無(wú)限大的質(zhì)量范圍內(nèi)提供很高的質(zhì)量分辨率（在實(shí)踐中通常是大約 10000amu）。
PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀三次對(duì)焦飛行時(shí)間）是一種高傳輸、并行檢測(cè)儀器，其目的是由主脈沖離子束轟擊樣品表面所產(chǎn)生的二次離子可以得到*的收集狀態(tài)，并可同時(shí)用于有機(jī)和無(wú)機(jī)表面特征分析。
TRIFT分析儀的工作原理會(huì)把離子在光譜儀中不斷的重新聚焦。使二次離子質(zhì)譜允許更多重大的實(shí)驗(yàn)得以進(jìn)行。主離子束*的設(shè)計(jì)，允許經(jīng)由計(jì)算機(jī)控制去同時(shí)達(dá)到高橫向分辨率的成像和高質(zhì)量的圖譜分辨率。
是第五代SIMS儀器，該儀器具有*的時(shí)間飛行（TOF）分析儀，它擁有市場(chǎng)上TOF-SIMS儀器中zui大的角度和能量接受標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)了高空間分辨率質(zhì)量分辨率和使用具有優(yōu)良離子傳輸能力的三重重點(diǎn)半球形靜電分析器。PHI TRIFT V nanoTOF還具有很高的能力，可以圖像具有非常復(fù)雜的幾何形狀的樣本而沒(méi)有陰影。