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JEBG大功率電子槍?電源 詳細摘要: 日本電子JEOL大功率電子槍?電源EBG-300UA,JEBG-1000UB,JEBG-3000UB,是用來在真空中蒸發(fā)或熔解金屬及氧化物的大功率電子束發(fā)生源,...
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TP高頻感應(yīng)等離子體發(fā)生器 詳細摘要: 日本JEOL高頻感應(yīng)等離子體發(fā)生器 TP,通過高頻感應(yīng)加熱產(chǎn)生大約1萬度的熱等離子體,經(jīng)過物理/化學(xué)反應(yīng)過程,能合成納米顆粒及厚膜(鍍膜)。
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BS/JEBG/EBG電子槍 詳細摘要: 日本JEOL BS/JEBG/EBG 系列電子槍,用于光學(xué)薄膜及電極膜等各種薄膜形成的電子束蒸鍍用電子槍/電源。
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BS/JST電子槍/電源 詳細摘要: 日本JEOL BS/JST系列電子槍/電源,日本JEOL BS/JST系列電子槍/電源
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大功率電子槍/電源EBG-300UA,JEBG-1000UB,JEBG-3000UB 詳細摘要: 日本JEOL大功率電子槍/電源EBG-300UA,JEBG-1000UB,JEBG-3000UB,是在真空中蒸發(fā)或熔解金屬及氧化物的大功率電子束發(fā)生源,能在不斷...
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BS-80020CPPS等離子體源 詳細摘要: 日本JEOL BS-80020CPPS等離子體源,是用于輔助低溫(100℃以下等)下塑料基板和膠片成膜的等離子體源。
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BS-80011BPG產(chǎn)生高密度等離子體的內(nèi)置型等離子源 詳細摘要: 日本JEOL BS-80011BPG產(chǎn)生高密度等離子體的內(nèi)置型等離子源,安裝在真空室內(nèi)產(chǎn)生高密度等離子體的等離子體源。利用和真空蒸鍍結(jié)合的等離子體輔助沉積技術(shù)(...
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RF-120高頻電源 詳細摘要: 日本JEOL RF-120系列高頻電源,是濺射、刻蝕、CVD、離子鍍等薄膜制備/加工使用的、用于生成等離子體的13.56MHz高頻電源(RF電源)。
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TP-99010FDR 粉末供應(yīng)裝置 詳細摘要: 日本JEOL TP-99010FDR 粉末供應(yīng)裝置,用氣體通過管道定量輸送粉末的送粉器。
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日本JEOL JBX-9500FS 電子束光刻系統(tǒng) 詳細摘要: 日本JEOL JBX-9500FS 電子束光刻系統(tǒng),是一款100kV圓形束電子束光刻系統(tǒng),兼的產(chǎn)出量和定位精度,能容納300mm的晶圓片和6英寸的掩模版,適合納...
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JBX-6300FS 電子束光刻系統(tǒng) 詳細摘要: 日本JEOL JBX-6300FS 電子束光刻系統(tǒng),在100kV的加速電壓下能自動調(diào)整直徑為(計算值)2.1nm的電子束,簡便地描畫出線寬在8nm以下(實際可達...
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JBX-3200MV 電子束光刻系統(tǒng) 詳細摘要: 日本JEOL JBX-3200MV 電子束光刻系統(tǒng),是用于制作28nm~22/20nm節(jié)點的掩模版/中間掩模版(mask/reticle)的可變矩形電子束光刻系...
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JBX-3050MV 電子束光刻系統(tǒng) 詳細摘要: 日本JEOL JBX-3050MV 電子束光刻系統(tǒng),用于制作45nm~32nm 節(jié)點的掩模版/中間掩模版(mask/reticle)的可變矩形電子束光刻系統(tǒng)。 ...
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日本JEOL電子自旋共振譜儀 JES-X310,X320 詳細摘要: 日本JEOL電子自旋共振譜儀 JES-X310,X320,經(jīng)過進一步改良低噪音耿氏振蕩器,達到了*的靈敏度。由于人們已經(jīng)認識到樣品中極少量的未成對電子會在很大程...
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日本RIBM HS-AFM超高速視頻級原子力顯微鏡 詳細摘要: 日本RIBM HS-AFM超高速視頻級原子力顯微鏡,突破了 掃描成像速慢的限制,掃描速度可達 20 frame/s,并且有 4 種掃描臺可供選擇。樣品無需特殊固...
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JNM-ECZR 系列 核磁共振譜儀 詳細摘要: 日本JEOL JNM-ECZR 系列 核磁共振譜儀,是高度結(jié)合了數(shù)字技術(shù)和高頻技術(shù)研制的脈沖傅里葉變換核磁共振儀。電路的高度集成化提高了譜儀的可靠性、實現(xiàn)了機體...
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JNM-ECZS核磁共振譜儀 詳細摘要: JNM-ECZS 核磁共振譜儀,不僅具有高性能,還進一步實現(xiàn)了譜儀的小型化。 高級軟件和自動化技術(shù),使常規(guī)測試全部實現(xiàn)了自動化。超高靈敏度自動調(diào)諧探頭包括了Su...
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JSX-1000S型X射線熒光光譜儀 詳細摘要: 日本JEOL JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(FP法?檢量線法)、RoHS元素篩選功能等...
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JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng) 詳細摘要: 日本JEOL JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng),該設(shè)備的SEM鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kV低加速電壓下,實現(xiàn)...
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JIB-4000 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) 詳細摘要: 日本JEOL JIB-4000 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng),配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行SIM觀...
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