詳細摘要： JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設(shè)置和測試微焦X射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測試模式

詳細摘要： JIMA RT RC-05B分辨率測試卡是一款采用半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統(tǒng)獲得高質(zhì)量...

詳細摘要： USAF 1951分辨率測試卡,光學(xué)成像系統(tǒng)的分辨率指該系統(tǒng)能否分開兩個靠近的點或物體細節(jié)的能力，通常以每毫米可以識別的線對數(shù)（lp/mm）來表示光學(xué)成像系統(tǒng)分...

詳細摘要： QRM-MicroCT-BarPattern-NANO分辨率測試卡，內(nèi)含兩個3mm×3mm硅質(zhì)芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖...

詳細摘要： Cirs 016A-BR12分辨率測試卡,016A-BR12高分辨率線對卡只需一次曝光即可對乳房 X 線攝影系統(tǒng)分辨率進行 QC 檢查！

詳細摘要： QRM QRM-MicroBar分辨率測試卡內(nèi)含兩個3mm×3mm硅質(zhì)芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖樣，度規(guī)格為：1μm，2...

詳細摘要： JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會），致力于關(guān)注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA RT RC-05分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射...

詳細摘要： QRM-MicroBar測試模體，QRM QRM-MicroBar測試卡內(nèi)含兩個3mm×3mm硅質(zhì)芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點...

詳細摘要： MicroCT-Barpattern-NANO分辨率測試卡，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測試卡，采用雙硅芯片相互垂直、通過塑料...