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超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU9000

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更新時(shí)間:2024-04-26 15:22:28瀏覽次數(shù):161

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產(chǎn)品簡介

專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。

詳細(xì)介紹

專門為電子束敏感樣品和需極大300萬倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。

 新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計(jì)提高了低加速電壓性能。

0.4 nm / 30 kV (SE)

1.2 nm / 1 kV (SE)

0.34 nm / 30 kV (STEM)

 用改良的高真空性能和的電子束穩(wěn)定性來實(shí)現(xiàn)高效率截面觀察。

 采用全新設(shè)計(jì)的Super E x B能量過濾技術(shù),高效,靈活地收集SE / BSE/ STEM信號(hào)。


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