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劃痕測(cè)試儀

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更新時(shí)間:2023-05-24 09:22:08瀏覽次數(shù):248

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劃痕測(cè)試儀 成功的劃痕測(cè)試儀系列安東帕的劃痕測(cè)試儀能夠通過各種互補(bǔ)的方法檢測(cè)膜 - 基底的結(jié)合性能,對(duì)附著強(qiáng)度和摩擦力等參數(shù)進(jìn)行量化。這使得劃痕測(cè)試儀已成為研究、開發(fā)和質(zhì)量控制中確定涂層結(jié)合、耐劃傷性能和耐磨損性最重要的工具。 ......

詳細(xì)介紹

5 大理由

配備且獲得的同步全景成像模式

安東帕是美國 8261600 和歐洲 2065695 的持有者。劃痕實(shí)驗(yàn)后,即可采用全景成像模式以高圖像分辨率進(jìn)行記錄。全景圖像將與劃痕數(shù)據(jù)同步顯示。采用全景成像模式記錄后,可以隨時(shí)離線對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析。

了解真實(shí)劃痕深度的更多信息,以便進(jìn)行彈性恢復(fù)研究

在劃痕前后及劃痕過程中,可以用位移傳感器測(cè)量樣品的表面輪廓(:US 6520004)。這樣,可以在劃痕過程中和結(jié)束之后來評(píng)估壓頭在樣品表面的劃痕深度,更加可靠地了解耐劃傷性能和耐損傷性能。

在復(fù)雜表面上也能精確控制力

主動(dòng)力反饋系統(tǒng)確保了劃痕測(cè)試的重復(fù)性,即使研究更加復(fù)雜的表面如非平面、粗糙或曲面樣品時(shí),也是如此。安東帕的測(cè)試儀是商品化的具有主動(dòng)力反饋的系統(tǒng)。

符合各種需求和預(yù)算的平臺(tái)

模塊化平臺(tái)組合可提供適合各種預(yù)算和量程的理想儀器(適合微米、納米和超納米量程的專用儀器)。重點(diǎn)是,這是一款適合微米量程的優(yōu)質(zhì)且實(shí)惠的機(jī)械表面測(cè)試平臺(tái),特別是具備高通量和快速測(cè)量能力。

節(jié)省高質(zhì)量物鏡之間更換的時(shí)間

劃痕測(cè)試儀的內(nèi)置顯微鏡系統(tǒng)由高質(zhì)量奧林巴斯的多倍物鏡轉(zhuǎn)塔以及 USB 照相機(jī)組成,而不是品質(zhì)較低的單倍物鏡顯微鏡。輕松轉(zhuǎn)換成像放大倍數(shù),從而節(jié)約時(shí)間,并確保順利測(cè)試同一系列的許多不同樣品。

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