礦石分析儀
EDX 5500B X射線(xiàn)熒光分析儀是利用XRF技術(shù)解決復(fù)雜成份中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素,對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果,并且測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率;采用SDD硅漂移探測(cè)器,具有良好的能量線(xiàn)性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比; 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的一致性;利用解譜技術(shù)使譜峰分解,對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度;采用相似自動(dòng)分類(lèi)技術(shù)使分類(lèi)更準(zhǔn)確,有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的影響;采用多參數(shù)的線(xiàn)性回歸方法,使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。
臺(tái)式X射線(xiàn)熒光分析儀 能量色散EDX光譜儀的型號(hào):EDX 5500B
X光管:Rh靶材;50W;
高壓:50KV;1mA
探測(cè)器:SDD(硅飄移探測(cè)器)
配置真空裝置,包括真空泵
測(cè)試元素:S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等
X射線(xiàn)熒光分析儀的基本原理:
當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s,然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個(gè)過(guò)程稱(chēng)為馳豫過(guò)程。馳豫過(guò)程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子,此稱(chēng)為俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或效應(yīng),所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收,而是以輻射形式放出,便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光,其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。它的能量是特征的,與入射輻射的能量無(wú)關(guān)。因此,X射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn),熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學(xué)意義表達(dá)如下:
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律,式中K和S是常數(shù),因此,只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定性分析和定量分析
產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素:24種元素同時(shí)分析
測(cè)量鍍層:鍍層厚度測(cè)量至0.005微米,可分析5層以上的鍍層
分析精度:0.05%
測(cè)量對(duì)象狀態(tài):粉末、固體、液體
測(cè)量時(shí)間:60s—200s
能量分辨率為:(150±5)eV
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
標(biāo)準(zhǔn)配置
單樣品真空腔體
計(jì)算機(jī)、打印機(jī)
SDD硅漂移探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
精準(zhǔn)的升降平臺(tái)
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器
真空泵(可選)
壓片機(jī)(可選)
工作環(huán)境:
1、設(shè)備合理的工作環(huán)境,首先是不要在有電機(jī)、振動(dòng)、電磁、高壓或有高頻率燒電焊器的地方安裝設(shè)備,這樣會(huì)干擾我們?cè)O(shè)備或造成設(shè)備不能正常工作。
2、溫度:恒溫在250C左右,范圍超過(guò)10C以上影響大,所以要在溫度適合的地方做測(cè)試。建議采用空調(diào)房。
3、濕度:要在濕度均衡的地方做測(cè)試。不能超過(guò)90%的濕度。
4、灰塵容易腐蝕電路板,所以設(shè)備要保持干凈,工作室也同樣要保持干凈。
5、雷電天氣應(yīng)關(guān)掉電源,因?yàn)殚W電會(huì)直接影響設(shè)備的正常運(yùn)作。
應(yīng)用領(lǐng)域:
金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測(cè)??蓮V泛應(yīng)用于珠寶首飾中輕元素的檢測(cè)。
RoHS檢測(cè)分析、鹵素檢測(cè)分析、玩具皮革等八大重金屬測(cè)試
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
土壤中元素含量分析
水泥元素分析
固危廢中的P、S、Cl以及重金屬分析
油品中硫含量分析
各種有色金屬合金、冶煉品,礦渣,爐料的分析
非金屬氧化物、石灰石、鈦白粉等復(fù)雜材料的分析