顯微共聚焦拉曼光譜儀

關(guān)于WITec

WITec公司成立于1997年，是一家為科研和工業(yè)應(yīng)用提供高分辨率光學(xué)系統(tǒng)和掃描探針顯微鏡的德國(guó)制造商。公司的產(chǎn)品線包括探針技術(shù)的近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡，高靈敏度和高分辨率的共聚焦顯微拉曼光譜儀和用于材料研究和納米科技的原子力顯微鏡。

專注于創(chuàng)新并不斷推出新技術(shù)，WITec公司已經(jīng)成為光學(xué)研究、結(jié)構(gòu)分析和化學(xué)成像等領(lǐng)域的。在1999年推出臺(tái)共聚焦拉曼成像光譜系統(tǒng)，WITec就在靈敏度、測(cè)試速度和空間分辨率方面優(yōu)于市場(chǎng)上的普通拉曼成像技術(shù)，使得WITec系統(tǒng)成為一個(gè)可以真正測(cè)試3D化學(xué)成像的拉曼光譜系統(tǒng)。WITec共聚焦顯微系統(tǒng)的模塊化設(shè)計(jì)，允許將共聚焦拉曼和掃描探針顯微鏡集成到一個(gè)系統(tǒng)。這些創(chuàng)新設(shè)計(jì)促使目前聯(lián)用拉曼成像系統(tǒng)被廣泛應(yīng)用。

WITec公司在中國(guó)、日本、新加坡、西班牙和美國(guó)都設(shè)有分支機(jī)構(gòu)，產(chǎn)品銷量在超過(guò)1000套。

alpha300 R顯微共聚焦拉曼光譜儀

WITec的創(chuàng)新精神使得 alpha300 系列一直處于市場(chǎng)的地位，研發(fā)出快速成像技術(shù)（FAST RAMAN IMAGING®）并將其作為標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)， 給拉曼成像市場(chǎng)帶來(lái)了全新的變革。之后推出的真正共聚焦拉曼成像系統(tǒng)繼續(xù)建立了多方面的基準(zhǔn)：高靈敏度、高速度和三維成像，以及光譜質(zhì)量、空間分辨率，易用性和與其它測(cè)試手段的兼容性。

FAST RAMAN IMAGING®

快速拉曼成像（FAST RAMAN IMAGING®）是WITec每一套機(jī)械平臺(tái)或壓電臺(tái)掃描成像拉曼系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置。單個(gè)拉曼光譜的采譜時(shí)間可以短至10毫秒；配置 EMCCD時(shí), 超快速拉曼成像（ULTRAFAST RAMAN IMAGING®）速度大大提高，單譜積分時(shí)間短至 0.76 毫秒。

關(guān)鍵特性：

■ 共聚焦拉曼成像，具有的高速度，高靈敏度和高分辨率

■ 高光譜圖像中每個(gè)樣品點(diǎn)都能獲取一張完整的拉曼光譜

■ 優(yōu)異的橫向分辨率

■ 出色的縱向分辨率，非常適于3D成像和深度分析

■ 超快速拉曼成像，單譜積分時(shí)間1毫秒以下

■ 采用超高通光量的鏡頭采譜，獲得的靈敏度和的光譜分辨率

■ 無(wú)損成像技術(shù)：無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行染色或標(biāo)記

■ 優(yōu)異的成像質(zhì)量，譜形無(wú)畸變

部分技術(shù)指標(biāo)：

1. 激光器：UV-VIS-NIR多種波長(zhǎng)可選

軟件調(diào)節(jié)到達(dá)樣品的真實(shí)功率，調(diào)節(jié)步長(zhǎng)0.1mW

2. 光譜儀：70％超高通光量，全波段優(yōu)化無(wú)色差

不同焦長(zhǎng)光譜儀可選

3. 檢測(cè)器：科研級(jí)CCD，量子效率高達(dá)90%以上

EMCCD可選（超快速成像），每秒1300個(gè)光譜

4. 高空間分辨率：350nm(XY方向)，850nm(Z方向)

5. 光譜重復(fù)性好： 0.02cm^-1

可選/升級(jí)選項(xiàng)

■ UV-VIS-NIR多種激發(fā)波長(zhǎng)可選

■ 自動(dòng)共聚焦拉曼成像 (25 x 25 mm2; 50 x 50 mm2可選)

■ 低波數(shù)拉曼光譜及成像（＜10cm^-1）

■ 全偏振拉曼光譜及成像

■ 微區(qū)反射吸收光譜及成像（空間分辨率優(yōu)于400nm）

■ 原位光電流及成像（空間分辨率優(yōu)于500nm）

■ 低溫/高溫/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)拉曼光譜及成像

■ 原位電化學(xué)拉曼光譜及成像

■ 非線性光學(xué)成像（SHG/THG）

■ 熒光壽命成像（FLIM）

■ 落射熒光成像

■ 暗場(chǎng)散射光譜

■ 光鑷及細(xì)胞在線培養(yǎng)

■ 顆粒分析(particle scout)

■ Raman-AFM-SNOM聯(lián)用成像（真正意義上的原位?。?/span>

■ Raman-SEM（RISE）聯(lián)用成像（真正意義上的原位?。?/span>

alpha300 R 應(yīng)用實(shí)例：

金剛石薄膜應(yīng)力變化的共聚焦拉曼圖像，顏色變化反應(yīng) 結(jié)晶蜂蜜中花粉的3D拉曼圖像。掃描點(diǎn)數(shù)：150x150x50= 1,125,000張

應(yīng)力變化。紅色：壓縮應(yīng)變，藍(lán)色：拉伸應(yīng)變。 拉曼光譜， 掃描區(qū)域：50μmx50μmx50μm，單譜的積分時(shí)間：12.2毫秒，

總采集時(shí)間：3小時(shí)50分鐘。

半導(dǎo)體GaN層的拉曼縱向深度掃描。 紫色：GaN； 油（綠色）、烷烴（品紅色）和水（藍(lán)色）的3D共聚焦拉曼圖

綠色：結(jié)構(gòu)邊緣的熒光; 紅色：材料應(yīng)力。 像。掃描點(diǎn)數(shù)： 150×150×23 =517,500張拉曼光譜，掃描區(qū)域： 30μm×30μm×11.5μm，總采集時(shí)間：23分鐘。