詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目透反射金相顯微鏡XJ-55C能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察，尤其適合觀察金相試樣，電子芯片等樣品

詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目倒置金相顯微鏡XJ-50C廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科學領(lǐng)域

詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級三目倒置金相顯微鏡XJ-51C廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科學領(lǐng)域

詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級三目正置金相顯微鏡XJ-52C適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的...

詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目正置金相顯微鏡XJ-53C配置了立桿式的機架和移動工作臺，顯微鏡主體可大范圍升降和360旋轉(zhuǎn)

詳細摘要： 產(chǎn)品概述科研級明暗場正置金相顯微鏡XJ-54C用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究

詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目正置金相顯微鏡XJ-56C適用于不同厚度工件表面的金相組織結(jié)構(gòu)與工件表面質(zhì)量進行顯微觀察，主要用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測

詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目透反射金相顯微鏡XJ-57C配置了透射、落射照明裝置，既可以觀察金屬材料的金相組織結(jié)構(gòu)，也可以觀察半透明，甚至不透明的生物標本

詳細摘要： 產(chǎn)品概述三目正置金相顯微鏡XJ-53C-1配置了立桿式的機架和移動工作臺，顯微鏡主體可大范圍升降和360旋轉(zhuǎn)

詳細摘要： 產(chǎn)品概述一、產(chǎn)品簡介：研究級三目透反射金相顯微鏡XJ-58C適合觀察金相試樣，電子芯片等樣品