蓮蓬式試驗(yàn)裝置圖片

本水試驗(yàn)設(shè)備主要用于考核電工電子產(chǎn)品外殼、密封件在水試驗(yàn)后?；蛘咴谠囼?yàn)期間是否能保證該設(shè)備及元器件良好的工作性能及技術(shù)狀態(tài)。同時(shí)產(chǎn)品在運(yùn)輸過程或使用中可能受到侵水的影響，為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提供引用依據(jù)。本設(shè)備人工模擬淋雨試驗(yàn)，不包括有強(qiáng)風(fēng)速的降雨，不考慮試驗(yàn)樣品的溫度與雨水溫度的溫度差作用所引起的大量進(jìn)水。本設(shè)備可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)。