半導體粉末電阻率測試儀FZ2006圖片

本儀器是為了適應當前迅速發(fā)展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關標準設計的。直接采用數字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強，更方便于用戶，而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進行電阻、電阻率多用途的測量。