會(huì)員.png)
2021-08-27 12:31:30417
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 廠商性質(zhì):其他
- 品牌:
- 所在地區(qū):
進(jìn)入商鋪
在線詢價(jià)圖片描述：
芯片老化測(cè)試箱用于對(duì)封裝好的電路進(jìn)行可靠性測(cè)試（ReliabilityTest），它的主要目的是為了檢出早期失效的器件，稱為InfantMortality
圖片來(lái)源：
