FLEX_TM是來(lái)自于CRAIC科技公司的一款經(jīng)濟(jì)但是功能強(qiáng)大的紫外-可見(jiàn)-近紅外顯微分光光度計(jì)。FLEXTM可以對(duì)微米量級(jí)的樣品進(jìn)行無(wú)損的吸收、反射和熒光光譜測(cè)試。
FLEXTM顯微分光光度計(jì)從命名上可以看出是一款具有非常好靈活性的儀器。
FLEXTM能夠只使用一個(gè)鏡頭測(cè)量微光樣品從深紫外到近紅外范圍的光譜。設(shè)計(jì)的靈活性和經(jīng)濟(jì)性，模糊了科研級(jí)和工業(yè)使用的顯微分光光度計(jì)的界限；儀器操作簡(jiǎn)單易用和功能的強(qiáng)大適合于法醫(yī)鑒定和工業(yè)品質(zhì)檢測(cè)。
FLEXTM顯微分光光度計(jì)的特點(diǎn)是將高靈敏度CCD陣列探測(cè)器支柱整合到光度計(jì)上，每個(gè)探測(cè)器都是用TE冷卻技術(shù)達(dá)到降低噪聲和保證長(zhǎng)時(shí)工作穩(wěn)定性的要求，這使得儀器保持了非常優(yōu)良的信噪比。FLEXTM包含了一臺(tái)紫外-可見(jiàn)-近紅外顯微鏡，一套高分辨率彩色成像系統(tǒng)，紫外防護(hù)目鏡，一臺(tái)運(yùn)行Windows7專業(yè)版系統(tǒng)的主機(jī)和一套整合光譜分析/儀器控制的軟件包。FLEXTM操作簡(jiǎn)單、使用長(zhǎng)久耐用，能夠提供出非常的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
應(yīng)用
痕量證據(jù) 文檢表面等離子共振半導(dǎo)體薄膜厚度
光譜范圍 240 to 900 nm
反射光譜范圍 400-900nm
熒光光譜范圍 400-900nm
熒光激發(fā) 365-546nm
采集面積 1-10000平方微米
熒光發(fā)射 254-546nm
光譜分辨率 1-15nm可調(diào)
探測(cè)器 CCD陣列
探測(cè)器制冷半導(dǎo)體制冷
掃描時(shí)間最小4ms
成像彩色
成像分辨率高達(dá)500萬(wàn)像素
操作系統(tǒng) Windows 7 ，8