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BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試

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具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地成都市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024/10/14 14:29:54
  • 訪問次數(shù)195
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成都中冷低溫科技有限公司簡稱中冷公司(CHINACRYO)是一家專注于超低溫解決方案的創(chuàng)新型高科技公司,企業(yè)通過*、歐盟CE認證。公司主要生產高低溫沖擊氣流儀(熱流儀)、超低溫制冷機、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、環(huán)境模擬倉、老化測試設備等,各種為5G通訊、光模塊、集成電路、芯片、航空航天、天文探測、電池包、氫能源等領域的可靠性測試提供整套溫度環(huán)境解決方案,位于成都總部的技術中心超過3000平方米,在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、珠海、重慶設有辦事機構。公司核心技術團隊成員平均行業(yè)經(jīng)驗超過12年,超過40%的工程師擁有高級職稱,擁有外國企業(yè)工作經(jīng)驗工程師超過30%。公司自主研發(fā)的高低溫沖擊氣流儀(熱流儀)和超低溫制冷機具有優(yōu)勢地位,出口歐美及東南亞,在業(yè)內有較高的認可度。

低溫冷阱機,超低溫制冷機,水汽捕集深冷泵,冷熱沖擊機,高低溫循環(huán)沖擊機,熱流儀
產地 國產 產品大小 中型
產品新舊 全新 結構類型 立式
溫度范圍 +105℃~+150℃
BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試,HAST測試系統(tǒng)采用立式結構,便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件,對半導體芯片施加偏置電壓,以模擬芯片在長時間使用過程中的老化效應。該系統(tǒng)廣泛應用于IC封裝、半導體、微電子芯片、磁性材料及其它電子零件的可靠性測試。
BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試 產品信息

(價格僅供參考,請以實際價格為準

BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試

HAST半導體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng),HAST測試系統(tǒng)采用立式結構,便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件,對半導體芯片施加偏置電壓,以模擬芯片在長時間使用過程中的老化效應。該系統(tǒng)廣泛應用于IC封裝、半導體、微電子芯片、磁性材料及其它電子零件的可靠性測試。


BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試

HAST半導體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)適用于各種封裝形式的射頻場效應管、射頻功率器件等半導體芯片的可靠性測試。通過該測試,可以評估芯片在高溫高濕環(huán)境下的性能穩(wěn)定性、壽命以及潛在的失效模式,為芯片的研發(fā)、生產和質量控制提供重要依據(jù)。


BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試


B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設定)給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流,電壓,并根據(jù)預先設定,當被測材料實時漏電流超出設定時,自動切斷被測材料的電壓,可以保護被測元件不被進一步燒毀。



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