6430能以超過2000個(gè)讀數(shù)/秒的速度 讀至其內(nèi)存緩沖器。IEEE-488總線輸出能 每秒發(fā)送達(dá)75個(gè)源/測量讀數(shù)至外部計(jì)算 機(jī)控制器,包括通過/失效指示。
6430能提供達(dá)2.2W的4象限源, 以及低至亞fA和微伏電平的測量 靈敏度。在高達(dá)20V,它能測量從 1pA量程(僅0.4fA峰峰值噪聲)至 100mA量程的電流??商峁?00mV至 200V的電壓范圍。電流和電壓量程 設(shè)置定義了源或阱電壓或電流的 值。
典型應(yīng)用:
半導(dǎo)體測量
基于FET元件中的柵 極漏電或溝道漏電會在 MOSFET、FET、模擬開關(guān)和許 多其它電路中產(chǎn)生誤差。通 過允許研究人員測量極低電 平的電流和電壓,6430能幫 助他們了解這些元件的設(shè)計(jì) 局限以及研究替代器件的結(jié) 構(gòu)或材料。
SET研究
6430具有的優(yōu)秀低電流測量能力(<0.4fA峰峰值)使其對于單電子晶體管 (SET)和量子點(diǎn)研究非常有用。使用類似于鎖定的技術(shù),6430能以1aA靈敏度測量 電流(10–18A=6電子/秒)。
測量行業(yè)的噪聲和漂移
下圖的數(shù)據(jù)表明6430在5小時(shí)期間內(nèi)穩(wěn)定性非常突出,而且短期的低噪聲性能 優(yōu)秀。使用6430的AUTOFILTER以5秒上升時(shí)間在1pA量程上實(shí)現(xiàn)微弱信號采集。插 圖中的細(xì)節(jié)是濾波信號的截圖,顯示了6430型在最開始的100秒期間的低噪聲性能 (僅200aA峰峰值)。在溫度變化約1°C的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下提取數(shù)據(jù),其中6430的IN/ OUT HI和SENSE引線接防護(hù)罩。