全自動(dòng)掃描型X射線熒光光譜儀ZSX Primus II

全自動(dòng)掃描型X射線熒光光譜儀ZSX Primus II

儀器簡(jiǎn)介：

ZSX PrimusII是理學(xué)公司奉獻(xiàn)的上照射式X射線熒光光譜儀，是材料分析與評(píng)價(jià)的好幫手。

ZSX PrimusII是波長(zhǎng)色散掃描式熒光光譜儀，分析精度高。

可以對(duì)4Be到92U進(jìn)行定性、定量分析。

元素的檢量范圍從0.0001% ~ 99%，如進(jìn)行前處理，可以再下降2 ~ 3個(gè)數(shù)量級(jí)。

可以分析材料的狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。
可以分析材料的領(lǐng)域包括：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護(hù)。

技術(shù)參數(shù)
X射線發(fā)生器部分
X射線管：端窗式Rh靶 4kW或3kW
高壓發(fā)生器：高頻變頻方式
額定電壓,電流：4kW,60kV-150mA
穩(wěn)定度：±0.005%(對(duì)電源±10%變化時(shí))
冷卻水：水冷冷卻水(內(nèi)置)
分光部部分
樣品交換器：可以選擇12,24,36,48樣品交換器
樣品尺寸：φ51mmx40mm(H)
分析樣品面：φ35mm
樣品旋轉(zhuǎn)：30rpm
1次X射線濾波片：4種(Al,Ti,Cu,Zr)
視野限制光闌：6種自動(dòng)交換機(jī)構(gòu)(φ35,30,20,10,1,0.5 mm)
發(fā)散狹縫：3種自動(dòng)交換機(jī)構(gòu)(標(biāo)準(zhǔn)分辨率、高分辨率、超輕元素用(選件)
接收狹縫：SC用,F-PC用
測(cè)角儀：θ-2θ獨(dú)立驅(qū)動(dòng)
測(cè)角范圍：SC、5°-118°， F-PC、13°-148°
掃描速度：1400°/min(2θ)
連續(xù)掃描：0.1-240°/min
晶體交換機(jī)構(gòu)：10分光晶體自動(dòng)交換機(jī)構(gòu)
分光晶體：(標(biāo)準(zhǔn))LiF(200)、Ge、PET、RX25
(選件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP
真空排氣系統(tǒng)：雙真空室高速排氣系統(tǒng)(雙真空泵)
粉末樣品附件(選件)
氦氣置換機(jī)構(gòu)(選件)：帶隔板
恒溫化機(jī)構(gòu)：36.5度
記數(shù).控制部分：
重元素用：SC閃爍計(jì)數(shù)管，記數(shù)線性1000kcps
輕元素用：F-PC流氣比例計(jì)數(shù)管，記數(shù)線性2000kcps
芯線加熱自動(dòng)清洗機(jī)構(gòu)
衰減器：IN-OUT自動(dòng)切換(衰減率1/10)
計(jì)算機(jī)：windows PC
軟件：
定性分析：自動(dòng)鑒定分析功能，包括平滑,扣背景
定量分析：檢量線法
JIS法
各種基體校正
無(wú)標(biāo)樣分析法
EZ掃描,應(yīng)用模板,
樣品徑自動(dòng)選擇
譜峰分離
定精度測(cè)試
傳送功能,多功能標(biāo)準(zhǔn)樣品
其它選件
維護(hù)功能:
自動(dòng)PHA調(diào)整(PAS)
全自動(dòng)芯線清洗
自動(dòng)老化
自動(dòng)診斷
遠(yuǎn)程診斷

主要特點(diǎn)：

1、 大幅度提高了超輕元素(B,C)的分析靈敏度、準(zhǔn)確度

使用理學(xué)的強(qiáng)度的分光晶體RX-25，RX-61，RX-75，保證輕元素分析的靈敏度

采用APC自動(dòng)真空控制機(jī)構(gòu)，保證超輕元素分析的準(zhǔn)確度(理學(xué))

使用4KW 30um超薄窗、超尖銳、長(zhǎng)壽命X光管，超輕元素分析

2、 采用新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)重元素的高靈敏度分析

3、 強(qiáng)大的粉末樣品測(cè)試功能

上照式，可以長(zhǎng)時(shí)間防止粉末污染分光室

雙泵、雙真空設(shè)計(jì)(樣品室/預(yù)抽真空室)，防止粉末樣品的細(xì)微粉塵混入分光室

粉末附件，采用電磁閥真空密封，防止細(xì)微粉塵進(jìn)入真空泵內(nèi)

4、 加裝CCD視頻攝像機(jī)構(gòu)，位置分辨率可達(dá)100um，可以進(jìn)行0.5mm的微區(qū)分析，可以測(cè)量Mapping(理學(xué))
5、 提高少量樣品的分析準(zhǔn)確度

使用r-θ樣品臺(tái)(理學(xué))，解決了X射線照射不均以及分光晶體強(qiáng)度不均的問(wèn)題，保證樣品在X射線、條件下測(cè)量。

6、樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置

7、48位自動(dòng)進(jìn)樣器
8、PAS自動(dòng)調(diào)整脈沖高度系統(tǒng)(理學(xué))

ACC自動(dòng)清洗F-PC芯線系統(tǒng)(理學(xué))

可以保證儀器在狀態(tài)下使用

9、節(jié)約能源(自動(dòng)減少X射線管的輸出)；節(jié)約PR-10氣體；節(jié)約He氣(選用He室時(shí))；節(jié)省空間

10、 自動(dòng)監(jiān)控、自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)、自動(dòng)節(jié)能等多功能操作軟件
11、 的軟件分析，NEW SQX軟件
12、 全中文界面