Spot View®亞微米級(jí)表面檢測(cè)
美國REMSPEC的Spot View®產(chǎn)品獲得了美國R&D 100 設(shè)計(jì)大獎(jiǎng)。Spot View®是一種靈敏度非常高的表面分析技術(shù),檢測(cè)限可以達(dá)到0.3 μg/cm2。Spot View®包含配備斯特林制冷器的MCT檢測(cè)器,整個(gè)系統(tǒng)處于密閉狀態(tài)。Spot View®配備有3米長的光纖電纜,從而可以在很多場(chǎng)所自如使用。操作軟件系統(tǒng)符合美國藥典 21 CFR Part 11要求。諸如制藥行業(yè)的反應(yīng)釜或者計(jì)算機(jī)的硬盤的表面分析,可以選用手持式的檢測(cè)頭,可以在不受清洗溶劑的干擾下,準(zhǔn)確測(cè)試殘留的APIs活性組分的含量。