德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀
型號(hào):QNIX4200P
分體涂層測(cè)厚儀: 基體:Fe磁性基體,測(cè)量范圍:0-3000微米,探頭:分體探頭
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體設(shè)計(jì),只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn),使用極其簡(jiǎn)單。QNix4200P為磁性測(cè)厚儀,可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛(ài)。
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體化設(shè)計(jì),只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn),使用極其簡(jiǎn)單。
QNix4200P為磁性測(cè)厚儀,可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛(ài)。
在傳統(tǒng)QNix4200基礎(chǔ)上,為了滿足客戶不同的需要,特推出QNix4200P(分體式)機(jī),探頭和主機(jī)之間通過(guò)一根探頭線連接起來(lái),可以滿足特定測(cè)量環(huán)境(比如狹小空間)的需要,測(cè)量更方便,使用更人性化,性價(jià)比更高
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):
分體化設(shè)計(jì),滿足不同環(huán)境的測(cè)量
只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn)
體積小巧,操作方便
精度高
價(jià)格便宜
德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù) | |
磁性基體(Fe模式) | QNix4200P有此功能 |
測(cè)量范圍 | Fe:0-3000um |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) 1000-3000um≤±3%讀數(shù) |
小接觸面 | 10×10mm |
小曲率半徑 | 凸面:3mm 凹面:25mm |
小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補(bǔ)償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
QNix® 4200P SONDEN
Sonde | Messbereich | Substrat | Abweichung | ||
---|---|---|---|---|---|
QNix® 4200 3 mm | 3000 µm | Fe | +/- (3% +- 2 µm) | ||
QNix® 4200 5 mm | 5000 µm | Fe | 0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) | ||
Kleinste Messfläche | Kleinster Krümmungsradius | Kleinste Dicke des Substrats | |||
∅ 25 mm | Konvex: 5 mm | 200 µm | |||