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AFM光學(xué)工作站

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  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號(hào)OmegaScope
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2023/12/29 9:52:25
  • 訪問次數(shù)722
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會(huì)上的干涉儀、光彈性測(cè)量儀      
 · 1962年 雙級(jí)光譜儀和1400系列雙級(jí)激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎(jiǎng))      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎(jiǎng)),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級(jí)校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎(jiǎng)    
 · 1998年 可配CCD檢測(cè)器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng))    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會(huì)獲得Editor佳新品獎(jiǎng)  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測(cè)器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測(cè)器,CCD檢測(cè)器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
OmegaScope AFM光學(xué)工作站是一種最新的耦合光學(xué)和AFM高分辨、多領(lǐng)域研究的解決方案,它為光譜學(xué)和光子學(xué)研究人員提供了最新的途徑。它提供直接頂部和側(cè)向光路耦合的反射式配置。OmegaScope搭建了高空間分辨率光譜(拉曼、光致發(fā)光、熒光)和AFM相關(guān)的成像模式耦合的靈活平臺(tái)。
AFM光學(xué)工作站 產(chǎn)品信息

OmegaScope AFM光學(xué)工作站

OmegaScope是一種最新的耦合光學(xué)和AFM高分辨、多領(lǐng)域研究的解決方案,它為光譜學(xué)和光子學(xué)研究人員提供了最新的途徑。它提供直接頂部和側(cè)向光路耦合的反射式配置。OmegaScope搭建了高空間分辨率光譜(拉曼、光致發(fā)光、熒光)和AFM相關(guān)的成像模式耦合的靈活平臺(tái)。


拉曼激光和AFM反饋激光相互無干擾

1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見光和近紅外拉曼激光(364-830 nm)毫無相互干擾,并且消除了對(duì)可見光敏感生物和光伏樣品的任何寄生影響。


拉曼激光直達(dá)懸臂

OmegaScope系統(tǒng)將AFM和光學(xué)通道分離。這種獨(dú)立性不限制拉曼激光所需的波長,與AFM激光通過與拉曼激發(fā)激光相同的高孔徑物鏡的系統(tǒng)相比,簡化了整個(gè)系統(tǒng)的調(diào)節(jié)。用戶可以輕松地重新聚焦高NA物鏡,而無需對(duì)AFM激光器進(jìn)行任何額外的重新調(diào)整。OmegaScope的設(shè)計(jì)為原子力顯微鏡提供了更高的穩(wěn)定性,降低了對(duì)震動(dòng)和噪聲的靈敏性。


簡單、快速、可重復(fù)的懸臂調(diào)整

采用固定式AFM激光器的設(shè)計(jì),激發(fā)激光對(duì)懸臂梁針尖的調(diào)節(jié),簡單快捷。此外,如果安裝相同類型的新懸臂,就可以很容易地找到和掃描樣品表面上的相同區(qū)域(在幾微米的重復(fù)性范圍內(nèi)),而無需任何額外的搜索。


自動(dòng)AFM登記系統(tǒng)調(diào)整

SmartSPM掃描探針顯微鏡是OmegaScope系統(tǒng)反射式機(jī)構(gòu)的配置核心,也是第一臺(tái)從設(shè)計(jì)到耦合HORIBA光譜儀的采用激光-懸臂-光電二極管全自動(dòng)準(zhǔn)直的掃描探針顯微鏡。


快速掃描

采用業(yè)界最高的高共振頻率掃描器(XY>7kHz和 Z>15kHz),優(yōu)化的掃描器控制算法可以輕松實(shí)現(xiàn)快速掃描。


振動(dòng)穩(wěn)定性,聲學(xué)穩(wěn)定性,高頻的快速掃描器

快速響應(yīng)時(shí)間,低漂移和量值溯源。采用業(yè)界好的平板閉環(huán)掃描器,掃描范圍為100μmx100μmx15μm,單個(gè)掃描器可以實(shí)現(xiàn)大范圍測(cè)量到真正的分子分辨率成像。歸功于掃描器和整個(gè)原子力顯微鏡的高機(jī)械剛度,即使沒有主動(dòng)減震保護(hù),也可以保證OmegaScope杰出性能。這些特性還允許實(shí)現(xiàn)特殊和更復(fù)雜的掃描算法,如Top模式。在這種模式下,針尖在掃描點(diǎn)之間被提升到樣品表面上方。在每一個(gè)掃描點(diǎn),探針都會(huì)回到樣品表面。掃描信號(hào)在針尖振蕩幅度達(dá)到設(shè)定閾值后立即測(cè)量。它可以避免任何橫向力的相互作用,例如保證TERS探針的安全性,同時(shí)保持掃描率高達(dá)1Hz。


輕松更換樣品

OmegaScope AFM平臺(tái)設(shè)計(jì)允許在不取下FM頭和懸臂支架的情況下更換樣品。它大大提高了實(shí)驗(yàn)的可靠性,避免了操作人員在這類常規(guī)過程中可能出現(xiàn)的錯(cuò)誤。


頂部和側(cè)向光路照明

頂部和側(cè)向的光學(xué)通道均可進(jìn)入針尖-樣品區(qū),充分利用紅外、可見光和紫外高NA平消色差物鏡光譜成像能力(頂部物鏡:高達(dá)0.7NA;側(cè)向物鏡:高達(dá)0.7NA)和原子力顯微鏡相關(guān)技術(shù),可在寬光譜范圍和最小激發(fā)激光光斑面積內(nèi),對(duì)樣品表面的光信號(hào)進(jìn)行共焦檢測(cè)。側(cè)向光路在TERS和TEPL實(shí)驗(yàn)中的成功歸功于OmegaScope系統(tǒng)設(shè)計(jì)的合理性,它提供了更重要的電磁場(chǎng)的軸向分量,有效地激發(fā)了針尖-樣品結(jié)中的等離激元共振。


頂部和側(cè)向物鏡掃描器

為了使AFM針尖和拉曼激光束對(duì)準(zhǔn),平板閉環(huán)XYZ物鏡掃描器可以安裝在頂部、側(cè)向和底部。此外,這種解決方案提供了盡可能高的分辨率、長期穩(wěn)定性和對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)化,加上更寬的光譜范圍,盡可能少的輸入/輸出系統(tǒng)中的光學(xué)元件,從而大大減少了有用光信號(hào)的損失。


鎖相環(huán)控制的內(nèi)置DFM測(cè)量

動(dòng)態(tài)力顯微鏡(DFM)模式是OmegaScope系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置。利用控制器內(nèi)置的鎖相環(huán)(PLL)電路,設(shè)計(jì)了一種適用于該模式的調(diào)頻(FM)檢測(cè)器。使用DFM可以可靠地保持最小的針尖-樣品相互作用(即在吸引力區(qū)域內(nèi)成像),這對(duì)于成功的TERS和掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM)實(shí)驗(yàn)來說是非常關(guān)鍵的。


STM、導(dǎo)電AFM和SNOM選項(xiàng)

與光譜測(cè)量同時(shí),OmegaScope可以配備的模塊,使用該模塊可以測(cè)量AFM或STM中三個(gè)線性范圍(1nA、100nA和10uA)的局部電流。這些范圍可以在軟件中切換,其中每個(gè)范圍所需的帶寬可以從100Hz到7kHz進(jìn)行選擇。在1na和1300nm原子力顯微鏡激光的測(cè)量范圍內(nèi),60fA的導(dǎo)電模塊噪聲級(jí)為光電領(lǐng)域的導(dǎo)電性測(cè)量樹立了新的標(biāo)準(zhǔn)。

除了OmegaScope平臺(tái)的特殊靈活性之外,還提供了基于音叉反饋設(shè)計(jì)的SNOM。除了標(biāo)準(zhǔn)的SNOM實(shí)驗(yàn)外,您還可以遵循經(jīng)典的納米光學(xué),特別是無光闌SNOM,使用具有適當(dāng)偏振的飛秒激光脈沖照明的金屬針尖進(jìn)行近場(chǎng)熒光成像。


SmartSPM掃描器和基座

閉環(huán)平板掃描器: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

掃描器非線性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開);

XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);

Z<0.04 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開)

高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

X, Y, Z自動(dòng)趨近:XYZ數(shù)字閉環(huán)控制,Z向馬達(dá)趨近距離18mm

樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm

樣品定位:自動(dòng)樣品臺(tái)范圍:5 mm x 5 mm

定位精度:1µm


AFM測(cè)試頭HE002

激光波長:1300nm

激光對(duì)生物樣品無影響;

激光對(duì)光電測(cè)量無影響;

系統(tǒng)噪聲:< 0.1 nm

全電動(dòng):4步進(jìn)電機(jī)用于懸臂和光電二極管自動(dòng)對(duì)準(zhǔn);

探針通道:為外部操作和探針提供自由通道;

頂部和側(cè)向同時(shí)光路通道:帶平消色差物鏡,可同時(shí)高達(dá)100x,NA0.7側(cè)向物鏡和10x,NA0.28頂部物鏡;


SPM測(cè)量模式

標(biāo)準(zhǔn)模式:接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側(cè)向力模式(LFM)、力調(diào)制模式、磁力顯微鏡模式(MFM)、開爾文探針模式(表面電勢(shì),SKM,KPFM)、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式(EFM)、力曲線測(cè)量、壓電響應(yīng)模式(PFM)、納米蝕刻、納米操縱

升級(jí)模式:溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導(dǎo)電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線測(cè)

 

同步Raman的SPM測(cè)量模式

空中接觸原子力顯微鏡;

液體接觸原子力顯微鏡(可選);

空氣中的半接觸原子力顯微鏡;

液體半接觸原子力顯微鏡(可選);

動(dòng)態(tài)力顯微鏡(DFM,F(xiàn)M-AFM);

耗散力顯微鏡;

真正非接觸原子力顯微鏡;

相位成像;

側(cè)向力顯微鏡;

力調(diào)制;

導(dǎo)電原子力顯微鏡(可選);

單通開爾文探頭;

壓電響應(yīng)力顯微鏡;

STM(可選);

光電流成像(可選);

帶音叉的剪切力顯微鏡(ShFM)(可選);

帶音叉的法向力顯微鏡(可選)。


光譜模式

共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像

針尖增強(qiáng)拉曼光譜(AFM,STM等)

針尖增強(qiáng)熒光

近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)

電流范圍:100fA~10µA;三檔量程自動(dòng)切換(1 nA, 100 nA 和 10 µA)


 導(dǎo)電力AFM(選購)

電流范圍:100fA~10µA;三檔量程自動(dòng)切換(1 nA, 100 nA 和 10 µA)


光路耦合通道

頂部和側(cè)向能夠同時(shí)使用消色差物鏡:從頂部或側(cè)向最高可用100X,NA0.7物鏡;可同時(shí)使用20倍和100倍.

長期光譜激光穩(wěn)定對(duì)準(zhǔn)的閉環(huán)壓電物鏡掃描器:20µm x 20µm x 15µm;分辨率:1nm

OmegaScope AFM光學(xué)工作站

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