大功率半導體激光器老化測試系統(tǒng)解決方案
針對千瓦級大功率半導體激光器，普賽斯推出國產(chǎn)化極優(yōu)性價比大功率激光器老化測試系統(tǒng)解決方案.設(shè)備可擴展至4層結(jié)構(gòu)，每層設(shè)計若干路，每路支持1-16只激光器芯片的串聯(lián)老化。
圖：LDI系列大功率激光器老化測試系統(tǒng)
系統(tǒng)包括高溫環(huán)境控制裝置、直流或脈沖驅(qū)動電源、收光裝置、光纖、光譜儀(選配)、循環(huán)水冷系統(tǒng)、定制夾具、溫度采集器及上位機等.其中,電源采用普賽斯全新開發(fā)、自主設(shè)計的HCPL系列大功率激光器測試電源。
60A CW模式，600A QCW模式
值得一提的是,隨著國內(nèi)半導體產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展,以及行業(yè)解決“卡脖子”難題的決心,國產(chǎn)化儀器儀表的時代已然到來！武漢普賽斯儀表堅持自主創(chuàng)新，爭做國貨之光！大功率led管liv測試設(shè)備詳情上普賽斯儀表咨詢
產(chǎn)品簡介
普賽斯多路大功率激光器老化系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定、抗擾能力強，并具有防過沖、防反沖、抗浪涌的穩(wěn)壓及恒流的雙重保護電路等功能，為大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的老化測試提供了一個完整的解決方案，
器件裝載使用抽屜式結(jié)構(gòu)，設(shè)備可以靈活擴展Z高至4層結(jié)構(gòu)，每層設(shè)計若干路，每路支持1-16只激光器的串聯(lián)老化。 普賽斯多路大功率激光器老化系統(tǒng)采用全新開發(fā)、自主設(shè)計的大電流脈沖恒流源，可以兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流掃描、脈沖直流、脈沖掃描等四種模式。該系統(tǒng)包括高溫環(huán)境控制裝置、直流或脈沖驅(qū)動電源、收光裝置、光纖、光譜儀（選配）、循環(huán)水冷系統(tǒng)、定制夾具、溫度采集器及上位機等。實現(xiàn)上位機程序進行自動測試，自動采集半導體激光器驅(qū)動電流、激光器電壓、激光器光功率、環(huán)境溫度。實現(xiàn)多單元、高效率、自動監(jiān)控并記錄上傳測試數(shù)據(jù)的一體化測試系統(tǒng)。
設(shè)備特點
單抽屜最多支持16路8抽屜；
各通道互相獨立；
電流回讀，同步自動測量電壓、光功率等數(shù)據(jù)；
加熱膜加熱，溫控范圍：室溫～125℃；
電源抗浪涌設(shè)計；
收光裝置水冷；
J對精度±1℃，不同DUT溫度均勻性±2℃；
老化數(shù)據(jù)自動記錄與數(shù)據(jù)導出；
產(chǎn)品應(yīng)用
大功率LED的LIV測試及產(chǎn)線批量老化
大功率激光器的LIV測試及產(chǎn)線批量老化
大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的穩(wěn)定性及可靠性測試
普賽斯以自主研發(fā)為導向，深耕半導體測試領(lǐng)域，在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、大功率激光器老化測試系統(tǒng)等測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于高校研究所、實驗室，新能源，光伏，風電，軌交，變頻器等場景。普賽斯全新升級S系列數(shù)字源表更大直流,更高精度,科研實驗B備源表,標準的SCPI指令集,上位機軟件功能豐富;更多有關(guān)大功率led管liv測試設(shè)備詳情上普賽斯儀表咨詢
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