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射頻輝光放電光譜儀

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公司名稱HORIBA 科學儀器事業(yè)部
品牌HORIBA
型號GD Profiler 2
所在地上海市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2024/8/9 16:38:31
訪問次數(shù)567

產(chǎn)品標簽:

光譜儀射頻輝光放電光譜儀

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公司介紹主營產(chǎn)品

成立于1819年，Jobin Yvon公司的總部設在高科技發(fā)達的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中，Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì)，為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品：

· 1900年世博會上的干涉儀、光彈性測量儀
· 1962年雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀
· 1968年商品化全息光柵
· 1973年相差校正全息光柵（榮獲IR100獎）
· 1977年拉曼分子顯微探針（IR100獎），順序掃描型ICP光譜儀
· 1975年全計算機化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機化光子計數(shù)熒光光譜儀
· 1983年離子刻蝕“閃耀”全息光柵
· 1985年光柵型波分復用器
· 1989年超級校正全息光柵和二維成像光譜儀
· 1996年榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎
· 1998年可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀（獲激光儀誘導發(fā)光技術獎）
· 1998-1996年收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司
· 2001年獲得美國宇航局（NASA）頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻獎”
· 2002年世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀，在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎
· 2002-2003年收購德國Philips橢偏儀公司和IBH（英格蘭）公司
· 2006年美國宇航局（NASA）噴射推進實驗室頒發(fā)“運行碳觀測器（OCO）衍射光柵杰出貢獻獎”

HORIBA歐洲總部

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司，完成了公司強強聯(lián)手。

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產(chǎn)廠家?，F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。

目前，HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障！

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科學儀器：拉曼光譜分析，拉曼光譜設備，熒光光譜儀，粒度分布儀，粒度分析儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	進口	產(chǎn)品新舊	全新

HORIBA GD Profiler 2射頻輝光放電光譜儀是解密鍍層工藝、解析鍍層結(jié)構(gòu)的強有力手段，可以通過元素變化獲得鍍層結(jié)構(gòu)、層間擴散、元素富集、表面處理、鍍層均一性等信息，從而改善工藝條件等。主要應用行業(yè)有金屬冶金、半導體器件、LED芯片、薄膜太陽能電池、鋰電池陰陽、光學玻璃、核材料等。

射頻輝光放電光譜儀產(chǎn)品信息

HORIBA GD Profiler 2射頻輝光放電光譜儀是解密鍍層工藝、解析鍍層結(jié)構(gòu)的強有力手段，可以通過元素變化獲得鍍層結(jié)構(gòu)、層間擴散、元素富集、表面處理、鍍層均一性等信息，從而改善工藝條件等。主要應用行業(yè)有金屬冶金、半導體器件、LED芯片、薄膜太陽能電池、鋰電池陰陽、光學玻璃、核材料等。

GD-Profiler 2 作為超快鍍層分析的理想工具，非常適合于導體和非導體復合鍍層的分析，操作簡單、便于維護，是鍍層材料研發(fā)、質(zhì)控的理想工具。

· 使用脈沖式射頻輝光源，可有效分析熱導性能差以及熱敏感的樣品。

· 采用多項技術，如高動態(tài)檢測器（HDD），可測試ppm-100%的濃度范圍，Polyscan多道掃描的光譜分辨率為18pm~25pm等。

· 分析速度快（2-10nm/s）

HORIBA GD Profiler 2射頻輝光放電光譜儀技術參數(shù)：

1、射頻發(fā)生器-標準配置、復合D級標準、穩(wěn)定性高、濺射束斑為平坦、等離子體穩(wěn)定時間短，表面信息無任何失真。

2、脈沖工作模式既可以分析常規(guī)的涂/鍍層和薄膜，也可以很好地分析熱導性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜。

3、Polyscan多道（同時）光譜儀可全譜覆蓋，光譜范圍從110nm-800nm，可測試遠紫外元素C、H、O、N和Cl。

4、HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有大的光通量，因而擁有很好的光效率和靈敏度。

5、高動態(tài)檢測器（HDD）可快速、高靈敏的檢測ppm-100%含量的元素。動態(tài)范圍為5×1010。

6、寬大的樣品室方便各類樣品的加載。

7、功能強大的Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測報告。

8、HORIBA的單色儀（選配）可大地提高儀器靈活性，可實現(xiàn)固定通道外任意一個元素的同步測試，稱為n+1。

9、適用于ISO14707和16962標準。

儀器原理：

輝光放電腔室內(nèi)充滿低壓氬氣，當施加在放電兩的電壓達到一定值，超過激發(fā)氬氣所需的能量即可形成輝光放電，放電氣體離解為正電荷離子和自由電子。在電場的作用下，正電荷離子加速轟擊到（陰）樣品表面，產(chǎn)生陰濺射。在放電區(qū)域內(nèi)，濺射的元素原子與電子相互碰撞被激化而發(fā)光。