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高頻紅外碳硫分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號EMIA-Pro
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/8/9 16:37:16
  • 訪問次數(shù)512
產(chǎn)品標(biāo)簽:

高頻紅外碳硫分析儀

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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機(jī)化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機(jī)化光子計數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實驗室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家。現(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
精度 C:1ppm或 1.0%;S:1ppm或1.5% 測量范圍 C: 0.0002%~6.0%; S: 0.0002%~1.
分析時間 40s 靈敏度 C:0.01ppm; S:0.01ppm
加熱系統(tǒng) 高頻爐 測量原理 紅外吸收法
HORIBA EMIA-Pro高頻紅外碳硫分析儀采用HORIBA技術(shù)的粉塵吹掃裝置,大提升了除塵效果,使?fàn)t頭免維護(hù)周期達(dá)到200次以上,大大降低維護(hù)工作量。
高頻紅外碳硫分析儀 產(chǎn)品信息

基于50多年紅外檢測技術(shù)開發(fā)及應(yīng)用和30多年EMIA系列紅外碳硫分析儀研發(fā)、制造的經(jīng)驗,HORIBA 公司新推出高頻紅外碳硫分析儀 EMIA-Pro。 

在保持上一代 EMIA系列紅外碳硫儀*性能基礎(chǔ)上,EMIA-Pro  進(jìn)一步提升易用性、耐用性、可靠性,并增加了強(qiáng)大的實時支持與幫助功能。

 新開發(fā)的*的高效自動清掃系統(tǒng)使設(shè)備免維護(hù)周期達(dá)200次檢測以上。通過對整個測試流程的優(yōu)化,使一次全流程分析時間縮短20%,進(jìn)一步提高分析效率。

 

HORIBA EMIA-Pro高頻紅外碳硫分析儀儀器特點:
 
1、檢測范圍(量程)寬,在稱樣量1g時的檢測范圍碳為0.6ppm-6%,硫為0.6ppm-1%,而且通過減少稱樣量還可以進(jìn)一步擴(kuò)大量程至100%; 

2、帶程序升溫控制控制功能的高頻感應(yīng)加熱方式高頻爐輸出功率2300W,頻率20MHz,其加熱溫度可達(dá)2000℃,能夠?qū)﹄y熔材料充分加熱燃燒,使其中的碳和硫*釋放; 

3、采用HORIBA技術(shù)的粉塵吹掃裝置,大提升了除塵效果,使?fàn)t頭免維護(hù)周期達(dá)到200次以上,大大降低維護(hù)工作量。 

4、全新設(shè)計的高效載氣精致器作為可選部件,保證載氣的高純度,進(jìn)而保證高檢測精度。

 5、操作系統(tǒng)兼具觸摸屏操作方式和常規(guī)操作方式。通過分析軟件程序自動控制紅外檢測器的相關(guān)參數(shù); 

6、維護(hù)窗口可對系統(tǒng)環(huán)境所有參數(shù)實施監(jiān)控并自動檢測診斷各個電電磁閥及機(jī)械部位使用狀態(tài); 

7、軟件操作簡單方便,界面人性化,。分析結(jié)果曲線動態(tài)顯示,具有數(shù)理統(tǒng)計功能,可計算平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、差等,并具有圖形數(shù)據(jù)存儲功能、圖形比較功能、圖形的差分運(yùn)算功能和釋放曲線分段積分處理功能等; 

8、具有數(shù)據(jù)傳輸功能,分析數(shù)據(jù)可及時進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)傳輸; 

9、具有分析條件設(shè)置導(dǎo)航功能、維護(hù)導(dǎo)航功能及故障診斷導(dǎo)航功能,能以文字和視頻的方式直觀地指示操作者進(jìn)行分析條件的設(shè)置和各項日常的維護(hù)操作及故障原因分析,讓即使不熟悉儀器設(shè)備的人也能順利完成日常的檢測和維護(hù)工作;
 
10、具有日志文件功能,能記錄所有的操作、結(jié)果、維護(hù)等,以便了解儀器運(yùn)行狀況。
 
11、針對用戶應(yīng)用需求的改變,可在用戶現(xiàn)場對儀器系統(tǒng)硬件做相應(yīng)的升級,保證儀器具有功能和應(yīng)用的擴(kuò)展性。

 

 

HORIBA EMIA-Pro高頻紅外碳硫分析儀儀器原理: 

EMIA-Pro的分析測試原理為采用可控制燃燒的大功率高頻加熱爐加熱樣品: 

1. 樣品在氧氣氣氛中被加熱爐加熱燃燒

2. 碳和硫被氧化成CO、CO2和SO2

3. 經(jīng)過氣路環(huán)節(jié)的除塵、除水及流量調(diào)整控制,CO、CO2和SO2被送至非分散紅外檢測器(NDIR)檢測進(jìn)而確定樣品中的碳和硫含量。 

主要構(gòu)成部分有大功率可控燃燒高頻加熱爐、新型高效自動清掃系統(tǒng)、超寬動態(tài)響應(yīng)范圍

4.檢測器高精度測試單元及具有強(qiáng)大的實時支持與幫助功能的操作控制系統(tǒng)。

 

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儀器參數(shù)

 

型號:EMIA-20P

高頻爐:2.3kW, 20MHz

分析含量范圍(%):C: 0.0002%~6.0%; S: 0.0002%~1.0%

靈敏度:C:0.01ppm; S:0.01ppm

精度:C:1ppm或 1.0%;S:1ppm或1.5%

 

關(guān)鍵詞:電磁閥
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