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原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)

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公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
品牌HORIBA
型號(hào)XploRA Nano
所在地上海市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2023/8/9 11:16:57
訪問(wèn)次數(shù)993

產(chǎn)品標(biāo)簽:

拉曼光譜原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)顯微共焦拉曼光譜

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品進(jìn)入商鋪同類產(chǎn)品

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

成立于1819年，Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國(guó)首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中，Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來(lái)的一貫宗旨——高品質(zhì)，為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品：

· 1900年世博會(huì)上的干涉儀、光彈性測(cè)量?jī)x
· 1962年雙級(jí)光譜儀和1400系列雙級(jí)激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀
· 1968年商品化全息光柵
· 1973年相差校正全息光柵（榮獲IR100獎(jiǎng)）
· 1977年拉曼分子顯微探針（IR100獎(jiǎng)），順序掃描型ICP光譜儀
· 1975年全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀
· 1983年離子刻蝕“閃耀”全息光柵
· 1985年光柵型波分復(fù)用器
· 1989年超級(jí)校正全息光柵和二維成像光譜儀
· 1996年榮獲法國(guó)CNRS佳橢偏儀獎(jiǎng)
· 1998年可配CCD檢測(cè)器的Triax系列光譜儀（獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng)）
· 1998-1996年收購(gòu)美國(guó)品牌SPEX、法國(guó)Dilor和法國(guó)Sofie儀器公司
· 2001年獲得美國(guó)宇航局（NASA）頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”
· 2002年世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀，在Pittcon展會(huì)獲得Editor佳新品獎(jiǎng)
· 2002-2003年收購(gòu)德國(guó)Philips橢偏儀公司和IBH（英格蘭）公司
· 2006年美國(guó)宇航局（NASA）噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測(cè)器（OCO）衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”

HORIBA歐洲總部

自從1988年合并了美國(guó)SPEX公司和1995年合并了法國(guó)Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司，完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

如今Jobin Yvon在法國(guó)、美國(guó)、日本、英國(guó)、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?，F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測(cè)器，CCD檢測(cè)器等）。

目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障！

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

科學(xué)儀器：拉曼光譜分析，拉曼光譜設(shè)備，熒光光譜儀，粒度分布儀，粒度分析儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	進(jìn)口	產(chǎn)品新舊	全新
光譜重復(fù)性	<0.1cm-1	空間分辨率	<10nm
低波數(shù)	50cm-1	光譜分辨率	1cm-1
光譜范圍	50-9000cm-1	儀器種類	顯微共焦拉曼光譜

HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)：將AFM的納米量級(jí)高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來(lái)，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測(cè)試。

原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)詳細(xì)信息：
將AFM的納米量級(jí)高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來(lái)，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測(cè)試。

HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)：
● AFM和拉曼同區(qū)域成像
● 針尖增強(qiáng)拉曼（TERS)
● AFM光杠桿反饋激光自動(dòng)準(zhǔn)直
● 可同時(shí)提供上方、側(cè)向耦合光路，均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
● 高頻掃描頭，對(duì)環(huán)境噪聲不敏感

AFM-拉曼耦聯(lián)配置
HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡（SPM）進(jìn)行耦合，構(gòu)建一個(gè)功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺(tái)。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來(lái)選擇合適的儀器。
所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過(guò)對(duì)掃描探針上的激光反射進(jìn)行快速成像或者根據(jù)針尖增強(qiáng)拉曼散射信號(hào)對(duì)熱點(diǎn)進(jìn)行成像，因而該配置能夠準(zhǔn)確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。
高通量的光信號(hào)收集和檢測(cè)硬件保證在快速掃描的同時(shí)采集每一點(diǎn)的SPM信號(hào)和拉曼光譜。

AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）

將您的所有需求集成到一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)中

我們所提供的解決方案使用直接光路耦合，對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高通量。該平臺(tái)可以把原子力顯微鏡（AFM）、近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)（SNOM,NSOM）、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學(xué)光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺(tái)多功能的儀器中，以實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）或共點(diǎn)測(cè)量。

結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

單層、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級(jí)別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場(chǎng)和近場(chǎng)光學(xué)特性。
● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。
● 同步測(cè)量的*平臺(tái)，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
● 結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會(huì)根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個(gè)可靠、全功能的解決方案
● 針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過(guò)優(yōu)化設(shè)計(jì)的，同時(shí)有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗(yàn)做技術(shù)支持，您可以自信地使用這一技術(shù)。

一個(gè)工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率

● 快速找到納米對(duì)象
由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性，拉曼峰信號(hào)較強(qiáng)，因此在光學(xué)顯微鏡下不可見(jiàn)的納米材料可以通過(guò)超快速拉曼成像進(jìn)行搜索和定位。在找到樣品后，我們可以對(duì)感興趣的位置進(jìn)行形貌、機(jī)械、電學(xué)和熱能分析。

● 交叉驗(yàn)證您的數(shù)據(jù)
拉曼光譜可以證實(shí)材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對(duì)比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個(gè)角度去獲得相同的信息，此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

● 獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學(xué)信息
在表征納米結(jié)構(gòu)時(shí)，有時(shí)僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細(xì)的化學(xué)成分信息，這是其他SPM傳感器無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。