EDX-8800H MAX材料分析光譜儀

EDX-8800H MAX XRF Spectrometer

立式X熒光光譜儀

材料分析專家

Simply the Best

>美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數(shù)率

>真空測試環(huán)境提供輕元素檢測效果

>無損元素分析涵蓋₁₁Na to ₉₂U

>適應(yīng)各種復(fù)雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿

>多組合濾光片系統(tǒng)，有效提高微量元素檢出限

>堅固的設(shè)計適用于于各種復(fù)雜而嚴苛的現(xiàn)場工作環(huán)境

EDX8800H MAX能量色散熒光光譜儀-材料成分分析專家

作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX8800H MAX配置了的基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了的高性能硬件，來滿足客戶對于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX8800H MAX都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測試結(jié)果，更穩(wěn)定的儀器性能， 使得EDX8800H MAX成為了客戶進行元素分析的工具之一。

EDX8800H MAX專注于對地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：

?鐵礦? 銅礦? 鋁土礦?貴金屬礦產(chǎn)?稀土礦?原料?磷酸鹽?煤炭?鉛鋅礦?錳礦?鎳礦?石灰石?粘土?石膏?玻璃?土壤?水泥?耐火材料及其他等

EDX8800H MAX操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應(yīng)用

>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等

>刑偵及：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

產(chǎn)品特點

作為一款專業(yè)為礦產(chǎn)元素分析而設(shè)計和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-8800H MAX兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優(yōu)勢主要有：

?無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果

?強大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體效應(yīng)的影響

?高功率光管和電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率

?能同時進行元素和氧化物成分分析

?多重儀器硬件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

?特別設(shè)計的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性，同時在測試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩(wěn)定性都有了明顯的提高

?友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

?八種光路準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

?高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

礦產(chǎn)元素檢測專家EDX8800H MAX

>儀器參數(shù)

儀器配置

功能強大而界面友好的測試軟件

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量。

軟件內(nèi)核-基本參數(shù)法（FP）可輕松分析未知樣品。

EDX8800H MAX已在工廠預(yù)安裝了軟件并進行了數(shù)據(jù)標定，客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復(fù)標定。強大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器，基體自動匹配

>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應(yīng)影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度

>可實時刷新測量結(jié)果

>簡單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩魟?chuàng)建新的自定義標定曲線

>可定制化測試報告，一鍵打印

鋁土礦樣品10次測試穩(wěn)定性報告