步入式環(huán)境實驗室

步入式環(huán)境實驗室用于給大型的工業(yè)待試產品如汽車配件、電視機配件或成品、長型燈具、大型顯示器、玻璃制品、光電通訊產品、儀器儀表、電工、電子產品、化工涂料、家用電器、航空航天及各種工業(yè)產品及相關產品的零部件在高溫、低溫、恒溫、恒濕、的環(huán)境下生產、貯存、運輸、使用時的提前適應性批量試驗或抽檢試驗。

步入式環(huán)境實驗室適用范圍：

高低溫步入式試驗箱、溫度范圍：-40～120℃是常用于通訊、光電、LED、電子等產品（如：光電產品、機算機整機或零配件、顯示器、觸摸屏、終端機、車用電子產品、主機板、電源供應器、監(jiān)視器、交換式充電器、手機、電腦、照相機、電話機等）仿真出一種高溫、低溫、高低溫交變、恒定、循環(huán)等惡劣溫度環(huán)境測試的設備，是提高產品可靠性、穩(wěn)定性的重試驗設備、是各生產企業(yè)提高產品質量和競爭性的重要試驗環(huán)節(jié)，高低溫步入式試驗箱、溫度范圍：-40～120℃廣泛生產企業(yè)的實驗室、*家計量院、研究所、高校實驗室、第三方檢測機構等領域。

設備結構

外框架構采用雙面彩鋼保溫庫板組合而成，大小尺寸可根據客戶要求訂制，根據不同的要求來進行配置。步入式試驗箱主要由箱體、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)風循環(huán)系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等組成。通過高低溫老化測試，可檢查出不良品或不良件，為顧客迅速找出問題并解決問題提供了有效的手段，充分提高了顧客生產效率和產品品質。

符合標準:

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求