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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

參考價(jià) 1000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2024/9/2 14:35:05
  • 訪問次數(shù)444
產(chǎn)品標(biāo)簽:

顯微光譜測量系統(tǒng)

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北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司位于首都北京,是一所擁有自主創(chuàng)新意識,不斷奮發(fā)前進(jìn)的科技公司。
本公司主要進(jìn)行儀器代理、市場營銷、售后服務(wù)、設(shè)備校準(zhǔn)等。
北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司憑借良好的信譽(yù),*的技術(shù)和穩(wěn)定的產(chǎn)品質(zhì)量,為公司的發(fā)展提供動力。
本公司員工都具有豐富的本行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)、有創(chuàng)新精神、團(tuán)結(jié)協(xié)作精神。

儀器儀表 電子產(chǎn)品 機(jī)械設(shè)備 化工產(chǎn)品 貨物進(jìn)出口 技術(shù)進(jìn)出口 代理進(jìn)出口 維修機(jī)械設(shè)備
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng),具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式,形成了較小的收光面;除此之外,視野+成像+收光+物面的共軛,可使觀察和測試同時(shí)進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡,滿足客戶對顯微鏡的不同需求。
顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1 產(chǎn)品信息

MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng),具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式,形成了較小的收光面;除此之外,視野+成像+收光+物面的共軛,可使觀察和測試同時(shí)進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡,滿足客戶對顯微鏡的不同需求。


成像照片


下圖為使用10X物鏡對50um小孔進(jìn)行透射率測量時(shí)的聚焦和實(shí)測畫面。

實(shí)測圖譜

系統(tǒng)參數(shù)

型號

MicroTEQ-B1

光譜儀

可根據(jù)情況自行選配

顯微反射測量模塊

兼容大部分主流顯微鏡

尺寸

220x172x68 mm

重量

2.8 kg

支持波段

400-700 nm

反射照明zui大支持相機(jī)尺寸

1/2”

測量光斑

  1. 10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖

  1. 50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖

























































關(guān)鍵詞:顯微鏡
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