一、PCT老化試驗箱用途:
主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。
二、PCT老化試驗箱特點:
1、PCT高壓加速試驗箱一家采用全自動補充水位之功能,試驗中斷.
2、試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,真正體現(xiàn)了實際的試驗參數(shù)。
3、干燥設(shè)計,采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥,確保穩(wěn)定性。
4、精準的壓力/溫度對照顯示,*符合溫濕度壓力對照表要求。
5、LED數(shù)字型定時器,當鍋內(nèi)溫度達到設(shè)定值后才開始計時以確保試驗*。
6、開始運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到*佳蒸氣質(zhì)量。
三、PCT老化試驗箱技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圓形試驗箱.
2.外箱尺寸: 700×900×650 mm(W×H×D)
3.內(nèi)箱材質(zhì) : SUS 316#不銹鋼板材質(zhì).
4.外箱材質(zhì): 上等烤漆。
5.溫度范圍 : 100℃~132℃. (飽和蒸氣溫度).
6.濕度范圍 : RH . (飽和蒸氣濕度).
7.壓力范圍(表上壓力) : 0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2控制點壓力 (安全壓力容量3.5Kg/cm2 ).
8.時間范圍: 0 ~ 999 小時可調(diào).
9.溫度分布: ≤± 2.0℃.
10.升溫時間:常溫 ~ 132℃約40分鐘內(nèi). (控制點溫度).
11.加壓時間:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2 約45分鐘內(nèi)(控制點壓力).
12.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.
13.控制方式:微電腦PID控制.
14.控制精度: ≤± 0.5℃.
15.解析精度:0.1℃.
以下是PCT老化試驗箱圖片
東莞鵬銳試驗設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)PCT老化試驗箱,高壓加速老化試驗箱,高壓老化試驗箱,高壓加速老化試驗機,高壓壽命老化試驗機等非標飽和高壓試驗箱。