紫外輻照計(jì)-UV-340紫外輻照計(jì)-UV-340介紹
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
紫外輻照計(jì)-UV-340主要性能指標(biāo)
※ 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng):UV-340探頭:λ:(315~370)nm;λP=340nm
※ 輻照度測(cè)量范圍: (0.1~199.9×103)μW/cm2
※ 紫外帶外區(qū)雜光: UV340:小于0.05%
※ 余弦特性: 符合國家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)
※ 示值相對(duì)誤差: ±10%
※ 響應(yīng)時(shí)間: 1秒
※ 使用環(huán)境: 溫度(0~40)℃;濕度<85%RH
※ 尺寸和重量:180mm×80mm×36mm;0.2kg
※ 電源:9V積層電池(6F22型)一只