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CPPT-D型大理石光學(xué)平臺(tái)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱濟(jì)南創(chuàng)譜儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2021/7/21 21:51:45
  • 訪問次數(shù)351
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濟(jì)南創(chuàng)譜儀器有限公司是一家集光學(xué)、精密機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體的高科技企業(yè)。目前公司的手動(dòng)探針臺(tái)、光學(xué)隔振平臺(tái)、光學(xué)積分球、電控位移臺(tái)、手動(dòng)位移臺(tái)、光學(xué)調(diào)整架等產(chǎn)品已經(jīng)形成產(chǎn)品系列化,規(guī)格多元化,國(guó)內(nèi)多家科研單位、激光加工設(shè)備廠商、光纖設(shè)備廠商在使用我們的產(chǎn)品。 創(chuàng)譜儀器主要生產(chǎn)經(jīng)營(yíng):光源(氙燈/光催化氙燈光源,鹵鎢燈光源,氘燈,汞燈,多波長(zhǎng)可調(diào)光源,激光器)、分光單色儀、光學(xué)積分球、光電探測(cè)器、數(shù)據(jù)采集器、光譜測(cè)量系統(tǒng)、電控精密位移臺(tái)、手動(dòng)精密位移臺(tái)、光學(xué)調(diào)整架、光學(xué)平臺(tái)、光學(xué)元件等系列產(chǎn)品。   我們誠(chéng)心聆聽用戶的需要與批評(píng),作為不斷改進(jìn)的動(dòng)力,能讓您滿意創(chuàng)譜儀器的產(chǎn)品及服務(wù),就是我們的成就。我們堅(jiān)持從設(shè)計(jì)、零件選型、制造、裝配、檢驗(yàn)、包裝、運(yùn)輸、直到售后服務(wù)做好質(zhì)量保證,就是要讓您 “付有所值”,以合理的價(jià)位得到優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,這是我們對(duì)您選擇創(chuàng)譜儀器真誠(chéng)的回報(bào)。   濟(jì)南創(chuàng)譜儀器始終以滿足用戶需求為宗旨,分別于北京、 深圳設(shè)立分公司,為用戶提供及時(shí)周到的銷售與技術(shù)服務(wù)。“研發(fā)創(chuàng)新、優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、高效服務(wù)” 是我們的經(jīng)營(yíng)理念, 公司長(zhǎng)期重視優(yōu)質(zhì)高效、短時(shí)間為客戶開發(fā)產(chǎn)品及提供技術(shù)支持。濟(jì)南創(chuàng)譜儀器真誠(chéng)的希望與國(guó)內(nèi)外同仁攜手合作,為推動(dòng)我國(guó)光電產(chǎn)業(yè)迅猛發(fā)展做出貢獻(xiàn)。
光學(xué)平臺(tái)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 :◆產(chǎn)品名稱:大理石光學(xué)平臺(tái)(剛性支架)◆產(chǎn)品型號(hào):CPPT-D◆產(chǎn)品應(yīng)用:適合于光通訊、電子制造、科研、科研院校、顯微鏡、光路測(cè)試、光學(xué)測(cè)量、激光干涉、激光掃描、光譜實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域應(yīng)用
CPPT-D型大理石光學(xué)平臺(tái) 產(chǎn)品信息

◆產(chǎn)品名稱:大理石光學(xué)平臺(tái)(剛性支架)

◆產(chǎn)品型號(hào):CPPT-D

◆產(chǎn)品應(yīng)用:適合于光通訊、電子制造、科研、科研院校、顯微鏡、光路測(cè)試、光學(xué)測(cè)量、激光干涉、激光掃描、光譜實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域應(yīng)用

產(chǎn)品特點(diǎn):

☆臺(tái)面材料采用健康型天然大理石平臺(tái)代替原有的鋼結(jié)構(gòu)平臺(tái),其明顯優(yōu)點(diǎn)是平面度好、質(zhì)量大、穩(wěn)定性好、耐腐蝕性強(qiáng)

☆平面度很高,臺(tái)面有00級(jí),0零可以選擇,

抗壓強(qiáng)度大于等于245mpa,抗彎強(qiáng)度22kn/mm2,肖氏硬度大于HS70,吸水率小于0.25%,

大理石平板工作面硬度應(yīng)均勻且工作面各部位肖氏硬度應(yīng)在HS70 以上

大理石平板工作面的表面粗糙度平均偏差Ra值應(yīng)達(dá)到0.32~0.63μm,側(cè)面的表面粗糙度平均偏差Ra 值應(yīng)小于10μm

大理石平板工作面與側(cè)面以及相鄰兩側(cè)面的垂直度公差為 12 級(jí)

對(duì)采用對(duì)角線法或網(wǎng)格法檢驗(yàn)大理石平板工作面平面度時(shí),應(yīng)檢驗(yàn)其平面波動(dòng)量

可根據(jù)不同規(guī)格接受特殊化定制

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