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高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng) 激光粒度儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱安賽斯（中國）有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時間2023/9/21 9:54:34
訪問次數(shù)463

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公司介紹主營產(chǎn)品

安賽斯（ANALYSIS）公司是專業(yè)從事分析儀器銷售、測試服務(wù)、以及*材料制造的綜合服務(wù)商。公司總部位于香港繁華的中環(huán)中心商務(wù)區(qū)。安賽斯（北京）科技有限公司具有中華人民共和國A類資質(zhì)的進出口企業(yè)，是國家納稅誠信單位。公司始終堅持“誠信、專業(yè)”的發(fā)展理念，用視角，引入*的技術(shù)與產(chǎn)品，為國內(nèi)用戶提供本地化的專業(yè)服務(wù)。安賽斯公司憑借豐富的現(xiàn)貨庫存、龐大的營銷網(wǎng)絡(luò)和專業(yè)的服務(wù)經(jīng)驗，在多年行業(yè)服務(wù)的基礎(chǔ)上，為廣大用戶提供分析測試儀器和配套技術(shù)服務(wù)；同時依托產(chǎn)品的技術(shù)優(yōu)勢和性能，集合了自身的研發(fā)、系統(tǒng)集成優(yōu)勢，針對客戶的測試需求提供個性化的應(yīng)用解決方案。　　公司的客戶涉及高等院校、科研院所、航空航天、微電子、新能源、生物醫(yī)藥、節(jié)能環(huán)保等行業(yè)和領(lǐng)域。擁有具備豐富知識和專業(yè)經(jīng)驗的技術(shù)服務(wù)團隊，致力于更好的為行業(yè)客戶提供專業(yè)、便捷的本地化服務(wù)。安賽斯公司將始終以為客戶提供"更豐富的產(chǎn)品選擇，更經(jīng)濟的解決方案，更全面的專業(yè)服務(wù)"為使命，用的技術(shù)與專業(yè)的服務(wù)為客戶提供的支持，和客戶同成長、共輝煌。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng)FF70CL適用于全自動分析最小缺陷的高分辨率二維和三維X射線系由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷，因而在半導(dǎo)體制造中，需借助自動化、高質(zhì)量、可靠、快速的無損檢測和分析來實現(xiàn)生產(chǎn)

高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng) 激光粒度儀產(chǎn)品信息

高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng) FF70 CL

適用于全自動分析最小缺陷的高分辨率二維和三維X射線系

由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷，因而在半導(dǎo)體制造中，需借助自動化、高質(zhì)量、可靠、快速的無損檢測和分析來實現(xiàn)生產(chǎn)。新型FF70 CL X射線檢測系統(tǒng)專門設(shè)計用于對這些樣品中最小和的缺陷進行自動化分析。結(jié)果：測試和檢測非常精確且可重復(fù)，性能出色。

l 改善質(zhì)量監(jiān)控，以更高的分辨率檢查更多的位置，從而確定可能遺漏的故障

l 通過更佳的測試覆蓋率顯著降低成本，從而提高產(chǎn)量

l 可隨時對工藝和缺陷參數(shù)的一致性進行可靠和可重復(fù)檢查

l 該創(chuàng)新自動化分析解決方案易于使用，優(yōu)化了操作成本

系統(tǒng)能力

FF70 CL具有較大的檢測面積，即，510 x 610mm，以及極精細(xì)的檢測深度，即，小于150nm，非常適合對三維集成電路、芯片和晶片中的焊接凸點和填充過孔進行自動、無損分析。

系統(tǒng)操作臺的創(chuàng)新真空機制在分析過程中能夠安全、精確地保持樣品，并抵消樣品翹曲的影響。

FF70 CL提供二維（自上而下）高性能平板探測器和三維（CL-計算機分層攝影）自動分析，使用高分辨率圖像增強器在特殊操作組件內(nèi)進行傾斜旋轉(zhuǎn)。

一代的納米焦點X射線管可生成能顯示和測量最小空隙和功能的二維和三維圖像，使FF70 CL能夠分析的*半導(dǎo)體難題。

圖形用戶界面（GUI）便于使用且直觀，允許用戶輕松創(chuàng)建自動化、多點和多功能分析檢測程序。

自動、連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)各個方面的背景校準(zhǔn)測試，可以確保隨時間變化的測量重復(fù)性。

系統(tǒng)屬性一覽：

l 可執(zhí)行自動化高通量分析，重復(fù)性良好且結(jié)果可靠

l 可簡單創(chuàng)建自動化、多點和多功能分析檢測程序，允許樣品和測量任務(wù)之間的快速變化

l 可執(zhí)行持續(xù)背景監(jiān)測和優(yōu)化，確保測量重復(fù)性和準(zhǔn)確性

技術(shù)數(shù)據(jù)

Attribute	Respective Value
Sample Diameters	795 [mm] (30.1")
Sample Height	150 [mm] (5.7")
Maximum Sample Weight	2 [kg]
System Dimensions	1940 x 2605 x 2000 [mm]
CT Modes	Ultra-high resolution Computed Laminography (CL)
Manipulation	Ultra-precise manipulator, active anti-vibration system, highest reliability