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桔皮儀 RHOPOINT OPTIMAP PSD

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱深圳市華豐科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/7/14 20:58:52
訪問次數(shù)557

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公司介紹主營產(chǎn)品

深圳市華豐科技有限公司儀器部主要向表面處理、涂鍍、涂裝領(lǐng)域，及公路、建筑等行業(yè)提供用于科學(xué)研究、生產(chǎn)、品質(zhì)控制的檢測(cè)儀器、檢測(cè)方法及技術(shù)支持。積極參與全國涂料和顏料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)、全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)和輕金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)化的制定工作，是國內(nèi)表面檢測(cè)領(lǐng)域里影響的專業(yè)供應(yīng)商之一。自 1990 年以來，儀器部作為德國 Elektro-Physik (EPK) 公司的中國總代理，使 EPK 產(chǎn)品獲得全國涂料和顏料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)的推薦，并通過國家技術(shù)質(zhì)量主持的國家計(jì)量器具型式批準(zhǔn)，占有中國涂層測(cè)厚市場(chǎng)的份額。目前，儀器部也是英國PTE, 英國Rhopoint的中國總代理，美國ATLAS、德國BYK-Gardner,德國HOMMEL.德國儀立信Erichsen,德國Testo,英國Elcometer，美國Raytek,美國Brookfield, 美國NORMANTOOL公司,美國DeFelsko公司,中國臺(tái)灣泰仕在中國的一級(jí)代理，成為他們中國市場(chǎng)業(yè)績優(yōu)良的分銷商和售后服務(wù)代表。在涂鍍層檢測(cè)、測(cè)溫、老化、涂料黏度測(cè)量等領(lǐng)域在中國市場(chǎng)占有大部份額，這主要得益于各行專家對(duì)儀器部服務(wù)和售后的認(rèn)可和儀器部代理的當(dāng)今世界涂鍍層檢測(cè)領(lǐng)域的儀器產(chǎn)品.儀器部的專業(yè)技術(shù)和至誠至信的服務(wù)贏得了廣大客戶的信任。通過設(shè)在二十多個(gè)省市的辦事處和特約分銷商，組成了完善的覆蓋全國的網(wǎng)狀銷售體系。四千多用戶遍及航空、造船、鐵路、公路、城市建設(shè)、石化、機(jī)械制造、建筑、家電等各行各業(yè)及政府質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)部門和研究院所。

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色度儀

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教學(xué)視頻OPTIMAPTMPSD產(chǎn)品表面質(zhì)量測(cè)量、繪圖表面形貌的3D形貌圖PSD技術(shù)便攜、使用方便全新的OPTIMAPTM標(biāo)志著控制表面質(zhì)量的一場(chǎng)革命

桔皮儀 RHOPOINT OPTIMAP PSD 產(chǎn)品信息

教學(xué)視頻OPTIMAP^TMPSD

產(chǎn)品表面質(zhì)量測(cè)量、繪圖

表面形貌的3D形貌圖

PSD技術(shù)

便攜、使用方便

全新的OPTIMAP^TM標(biāo)志著控制表面質(zhì)量的一場(chǎng)革命。主觀視覺評(píng)估次可以轉(zhuǎn)化為可靠的、有代表性的測(cè)量。

對(duì)大多數(shù)消費(fèi)者而言，高質(zhì)量的產(chǎn)品要求有同樣高質(zhì)量的外觀，沒有缺陷和瑕疵。表面外觀目前主要通過目測(cè)主觀評(píng)估或者通過不能捕捉表面質(zhì)量全貌的儀器測(cè)量。

OPTIMAP^TM提供了一個(gè)*的量化表面質(zhì)量的解決方案。

OPTIMAP通過簡(jiǎn)單快速操作測(cè)量，可以給出被測(cè)產(chǎn)品表面形貌上詳細(xì)的難以置信的缺陷和紋理情況。獲取的形貌信息處理成目標(biāo)表面測(cè)量值，可以用來有效地控制產(chǎn)品質(zhì)量。

堅(jiān)固耐用的OPTIMAP^TM適用于實(shí)驗(yàn)室，工廠或者現(xiàn)場(chǎng)檢查

柔軟的接觸測(cè)量口意味著儀器可以放心使用在高質(zhì)量的表面

表面紋理和缺陷可以評(píng)估各種表面：半啞光表面到拋光鏡面，小工件和曲面

單次操作測(cè)量面積 (95 x 70mm)

屏幕上的3D圖形即時(shí)讀取表面形貌

客觀的測(cè)量可以顯示為可追溯的標(biāo)準(zhǔn)單位或者選定的工業(yè)級(jí)別

數(shù)據(jù)和結(jié)果與其他分析技術(shù)和第三方軟件*兼容

Ondulo軟件可以生成復(fù)雜的紋理/缺陷分析和報(bào)告。

快速、可靠和便攜式測(cè)量

從集成的可充電電池或者直接電源供電, OPTIMAP^TM可以安全地用于實(shí)驗(yàn)室，工廠或者遠(yuǎn)程現(xiàn)場(chǎng)檢查。

由于儀器的光學(xué)測(cè)量使用相位步進(jìn)偏折原理，儀器無需在表面上移動(dòng)。

由于不需要移動(dòng)測(cè)量，儀器嚴(yán)格確保了每次測(cè)量的可靠性和準(zhǔn)確性。

廣泛的表面測(cè)試及應(yīng)用

OPTIMAP^TM可以廣泛的用于從超低光澤到鏡面光澤，不論面積大小，和帶有不同程度曲率的表面。

柔軟的橡膠測(cè)量口，確保放在高質(zhì)量的表面的上也是安全的。

典型的表面分析

OPTIMAP^TM客觀地測(cè)量和表征表面質(zhì)量的許多方面包括紋理、波紋度和局部缺陷（包括橘皮、夾雜物、凹坑和劃痕等）。

大測(cè)量面積（95mm x 70mm）提供了比那些表面輪廓儀或者其他光學(xué)掃描儀器更具有代表性的結(jié)果，而且可以以可追溯至標(biāo)準(zhǔn)單位（m^-1）或其他特定工業(yè)單位來體現(xiàn)。

具有高橫向分辨率（＜75um）的OPTIMAP^TM有能力捕獲人眼看不到的表面缺陷。

直觀的用戶界面

Optimap直觀的用戶界面提供了操作、設(shè)置和測(cè)量結(jié)果的顯示。帶圖標(biāo)的觸摸屏使用簡(jiǎn)便，只需按下屏幕上相應(yīng)的功能區(qū)域即可。

測(cè)量結(jié)果顯示為3D形貌圖，圖表和數(shù)字格式。

高分辨率3D圖像可以通過交互式全屏縮放和平移進(jìn)行仔細(xì)檢查。

數(shù)字結(jié)果可以顯示為標(biāo)準(zhǔn)單位或者調(diào)整為工業(yè)規(guī)范。

Optimap的紋理值與使用相同濾波頻帶的波紋值是相關(guān)的，常用于汽車和其他高光澤應(yīng)用。對(duì)于一些應(yīng)用包括塑料、金屬和紡織品，整體紋理值可以用來客觀評(píng)估大多數(shù)的可見紋理。

表面測(cè)量的一次革命

強(qiáng)大的離線分析

高分辨率的圖像測(cè)量結(jié)果可以很容易的從Optimap 傳輸?shù)絇C，使Rhopoint Ondulo軟件或第三方軟件如MOUNTAINS進(jìn)行處理。

數(shù)據(jù)傳輸簡(jiǎn)單，使用標(biāo)配的USB密鑰或者接口線纜。

RHOPOINT Ondulo閱讀軟件具有*的數(shù)據(jù)分析和報(bào)告功能。

可以識(shí)別、映射和量化表面效果如紋理、平整度、局部缺陷的數(shù)量、尺寸和的形狀等。

范圍Range	波長Wave Length (mm)	曲率Curvature (m^-1)
K	0.1 – 30.3	2.246
Ka	0.1 – 0.3	1.526
Kb	0.3 – 1.0	1.217
Kc	1.0 – 3.0	0.390
Kd	3.0 – 10.0	0.446
Ke	10.0 – 30.0	0.199

可以定性輪廓的曲率、斜率和高度

Ondulo中的缺陷分析例子

感興趣區(qū)域的3D圖像可以分離評(píng)估

3D 視圖

高度 (μm)

橫截面在Y-Y

高度 (μm)

橫截面在X-X

拖放功能使得圖像和數(shù)據(jù)可以很容易地轉(zhuǎn)移到Microsoft Word用作報(bào)告

靈活的屏幕視圖功能使得映射結(jié)果以單、雙或者3D格式顯示

表面的3D視圖和X/Y橫截面視圖可以*旋轉(zhuǎn)

雙視圖可以比較已保存的結(jié)果

縮放尺寸可以任選曲率(m^-1)或μm.

*的測(cè)量技術(shù)

OPTIMAP^TM采用的*的測(cè)量技術(shù)被稱為相位階梯偏折Phase Stepped Deflectometry (PSD)。這種白光光學(xué)技術(shù)使用一個(gè)周期的正弦波形模型來測(cè)量表面輪廓。通過高分辨率的顯示器和攝像頭捕獲圖像。

這種正弦波形像一把尺子使得光源的縱坐標(biāo)被映射在表面上，因?yàn)樗麄兒驼夷Ｐ洼喞目臻g相位成比例。

通過轉(zhuǎn)移或“步進(jìn)”的波形相位，使表面上的每個(gè)點(diǎn)，通過相機(jī)上每個(gè)像素的對(duì)應(yīng)點(diǎn)精確測(cè)量。利用表面、顯示屏和相機(jī)之間的幾何關(guān)系，反射光線在空間上模擬計(jì)算表面上每個(gè)點(diǎn)的法線方向從而獲得那個(gè)點(diǎn)的輪廓。