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日本理學(xué)差式掃描熱量?jī)xDSCvesta

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)DSCvesta
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2020/7/14 10:15:44
  • 訪問(wèn)次數(shù)888
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柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司專注于為科研工作者和質(zhì)量控制人員提供一站式實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)品與配套服務(wù)，致力于成為科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的變革者。公司通過(guò)自主研發(fā)、品牌運(yùn)營(yíng)、品牌代理、實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)規(guī)劃方案等方式為生物醫(yī)藥、新材料、新能源、化工化學(xué)、精細(xì)化工、食品日化、分析檢測(cè)等領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室提供綜合服務(wù)，覆蓋客戶的研發(fā)準(zhǔn)備、研發(fā)過(guò)程、研發(fā)后期、生產(chǎn)質(zhì)控等各個(gè)階段，提供“一站式”有競(jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品和服務(wù)，是國(guó)內(nèi)優(yōu)秀的科學(xué)服務(wù)提供商。

 

粘度計(jì),流變儀,紅外光譜儀,擠出機(jī),紫外分光光度計(jì),X射線衍射儀,掃描電鏡
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
日本理學(xué)差式掃描熱量?jī)xDSCvesta
通過(guò)采用創(chuàng)新的Δ（Delta）Block構(gòu)造的爐體，在低消耗電力下實(shí)現(xiàn)高效冷卻和加熱。此外還對(duì)應(yīng)連續(xù)測(cè)試。
自動(dòng)樣品交換機(jī)
可以使用所有5mm直徑標(biāo)準(zhǔn)樣品容器，且可以根據(jù)測(cè)試條件選擇多達(dá)3種參比樣品。通過(guò)與各種冷卻系統(tǒng)組合，可以根據(jù)目標(biāo)測(cè)試選擇構(gòu)成。測(cè)試條件可以通過(guò)單 一窗口設(shè)置，操作簡(jiǎn)單。
日本理學(xué)差式掃描熱量?jī)xDSCvesta 產(chǎn)品信息

日本理學(xué)差式掃描熱量?jī)xDSCvesta
通過(guò)采用創(chuàng)新的Δ（Delta）Block構(gòu)造的爐體，在低消耗電力下實(shí)現(xiàn)高效冷卻和加熱。此外還對(duì)應(yīng)連續(xù)測(cè)試。

自動(dòng)樣品交換機(jī)

可以使用所有5mm直徑標(biāo)準(zhǔn)樣品容器，且可以根據(jù)測(cè)試條件選擇多達(dá)3種參比樣品。通過(guò)與各種冷卻系統(tǒng)組合，可以根據(jù)目標(biāo)測(cè)試選擇構(gòu)成。測(cè)試條件可以通過(guò)單 一窗口設(shè)置，操作簡(jiǎn)單。

溫度和能量校正

溫度和能量校正使用基于標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試結(jié)果的校正表。并且可選擇校正模式，即用于正在進(jìn)行的測(cè)試的實(shí)時(shí)校正模式，和用于測(cè)試結(jié)束后的測(cè)試完成校正模式。

溫度保持無(wú)需預(yù)先測(cè)試

除了傳統(tǒng)的溫度控制，用戶還可以選擇預(yù)先控制模式。預(yù)先控制模式無(wú)需預(yù)先測(cè)試，即可無(wú)超調(diào)控制溫度。

溫度保持測(cè)試?yán)?/span>

使用預(yù)先控制，以10℃ /min的速度加熱并保持到200℃。

安全外罩

覆蓋自動(dòng)樣品交換機(jī)和爐體部分，保證測(cè)試過(guò)程中的安全性。測(cè)試時(shí)、自動(dòng)樣品交換機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)、以及爐體高溫時(shí)，外罩鎖定，不能打開(kāi)。

日本理學(xué)差式掃描熱量?jī)xDSCvesta冷卻單元

冷卻單元

測(cè)試溫度范圍

加熱速度（zei大）

冷卻速度（zei大）/冷卻時(shí)間

電氣冷卻

-90～725℃

50℃/min

10℃/min（直到-60℃）

液氮自動(dòng)供給型冷卻

-150～725℃

100℃/min

10℃/min（直到-110℃）

液氮虹吸式冷卻

-170～725℃

20℃/min

從室溫到-170℃約8分鐘

循環(huán)型冷卻

-10～500℃

20℃/min

10℃/min（直到40℃）

 

日本理學(xué)差式掃描熱量?jī)xDSCvesta選配

樣品觀察單元

紫外線照射單元

選配1.png

測(cè)試溫度范圍：室溫～300℃

像素?cái)?shù)：130萬(wàn)像素

可變倍率：10 ～ 50倍

分辨率 ：1280×1024、

　　　　 640×480

照明：內(nèi)置高亮度白色LED照明

選配2.png

測(cè)試溫度范圍：室溫～150℃

照射波長(zhǎng)范圍 ：300 ～450nm

zei大照射強(qiáng)度 ：450mW/cm

 

日本理學(xué)差式掃描熱量?jī)xDSCvesta 選配附件

附件1.png

樣品壓折器

樣品壓折器用來(lái)提高樣品和熱敏板之間的熱接觸。

（使用樣品容器①?）※

附件2.png

多功能密封器

配備樣品壓折器、樣品密封器和符合防火規(guī)定的高壓樣品密封器三種功能的電動(dòng)密封器。通過(guò)更換機(jī)頭區(qū)分功能。

附件3.png

樣品密封器

樣品密封器用來(lái)密封液體樣品或易蒸發(fā)、升華和脫水的樣品進(jìn)行測(cè)量。是用于樣品盤(pán)③的夾具。

耐壓0.3MPa（3氣壓）。

（使用樣品容器③）※

附件4.png

流量計(jì)

控制供應(yīng)樣品室氣體（惰性氣體、空氣等）的流量，提供 200、500、1000mL/min 的三種模式。

附件5.png

高壓樣品密封器

高壓樣品密封器用來(lái)密封液體樣品或易蒸發(fā)、升華和脫水的樣品。耐壓5MPa（50氣壓）。

（使用樣品容器?）※

附件6.png

氣體選擇器

結(jié)合測(cè)試程序，氣體選擇器通過(guò)切換內(nèi)部閥門(mén)控制流入樣品室的氣體。

流量計(jì)為選配。有關(guān)流量和氣體種類，請(qǐng)咨詢理學(xué)公司。

附件7.png

符合防火規(guī)定的

高壓樣品密封器

用于防火規(guī)定第5類危險(xiǎn)物的評(píng)價(jià)測(cè)試。

耐壓5MPa（50氣壓）。

（使用樣品容器⑩）※

附件8.png

雙道FLOW COMPO Jr.

雙道 FLOW COMPO Jr.允許用戶在工作站高精度設(shè)定氣體流量。此外，結(jié)合測(cè)試程序，還可以進(jìn)行氣體切換和關(guān)閉流量的設(shè)定。

※ 樣品容器的形狀和材質(zhì)請(qǐng)參見(jiàn) P18。

 

選配分析軟件

DSC Ozawa法

使用此方法，可通過(guò)三個(gè)以上不同升溫速度的DSC測(cè)試結(jié)果，計(jì)算活化能，推測(cè)達(dá)到一定反應(yīng)率的時(shí)間。

DSC比熱

基于從樣品容器、已知比熱樣品和測(cè)試樣品三個(gè)測(cè)試結(jié)果讀取基線偏移量，計(jì)算各溫度下的比熱容量。

純度

比較樣品的熔融峰和高純度物質(zhì)的熔融峰，通過(guò)校正后的熔融分?jǐn)?shù)計(jì)算樣品的純度。

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