.產(chǎn)品簡介：
隨著中壓開關(guān)無油化浪潮的興起，真空開關(guān)以其*的優(yōu)點(diǎn)得到了廣泛的推廣和應(yīng)用。這些年來，由于生產(chǎn)工藝和現(xiàn)場使用環(huán)境方面的原因，有些真空開關(guān)在運(yùn)行過程中其真空滅弧室會有不同程度的泄漏，有的在正常壽命范圍內(nèi)就可能泄漏到無法正常開斷的地步。在這種情況下進(jìn)行開斷就會出現(xiàn)不能正常開斷的現(xiàn)象而造成嚴(yán)重的后果。國內(nèi)真空開關(guān)事故大多是由此原因引起。所以加強(qiáng)定期或不定期檢測真空開關(guān)真空度成了十分重要的環(huán)節(jié)。本儀器采用磁控放電法進(jìn)行測量。將真空開關(guān)滅弧室的兩觸頭拉開一定的距離，施加電場脈沖高壓，將滅弧室置于螺線管圈內(nèi)或?qū)⑿滦碗姶啪€圈置于滅弧室外側(cè)，向線圈通以大電流，從而在滅弧室內(nèi)產(chǎn)生與高壓同步的脈沖磁場。這樣，在脈沖強(qiáng)磁場和強(qiáng)電場的作用下，滅弧室中的帶電離子作螺旋運(yùn)動，并與殘余氣體分子發(fā)生碰撞電離，所產(chǎn)生的離子電流與殘余氣體密度即真空度近似成比例關(guān)系。對于不同的真空管型號（管型），由于其結(jié)構(gòu)不同，在同等觸頭開距、同等真空度、同等電場與磁場的條件下，離子電流的大小也不相同。通過實(shí)驗(yàn)可以標(biāo)定出各種管型的真空度與離子電流間的對應(yīng)關(guān)系曲線。當(dāng)測知離子電流后，就可以通過查詢該管型的離子電流一真空度曲線獲得該管型的真空度。
在常規(guī)磁控放電測試滅弧室的真空度時，為了提高其測試靈敏度，需從斷路器上卸下滅弧室，并置于螺線管線管內(nèi)。這樣一來，滅弧室在重新裝回?cái)嗦菲鲿r需要調(diào)整機(jī)械參數(shù)，工作量很大并需專業(yè)人員。而使用新型磁控線圈可以從側(cè)面包圍滅弧室，這樣就不必拆卸滅弧室。而采用單片微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，提高了滅弧室真空度的現(xiàn)場測試靈敏度。
傳統(tǒng)的檢測方法是“耐壓法”，即真空開關(guān)處于開斷狀態(tài)下，在動靜觸頭之間施加一定的電壓，檢測其泄漏電流的大小，由此推斷真空管的好壞。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是：操作簡單；缺點(diǎn)是：只能定性地檢測真空管的好壞；而且真空度在10-5～10-1Pa之間無法準(zhǔn)確分辨，所以無法判斷泄漏的發(fā)展趨勢（即同一個真空開關(guān)和上次相比有多大程度的泄漏）。
我公司為開始研究真空開關(guān)滅弧室真空度現(xiàn)場的定量檢測，經(jīng)過近多年的努力，并實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)場不拆卸定量測量。生產(chǎn)出HDZK高壓開關(guān)真空度測試儀，有了定量測量的手段，不僅可以測量真空開關(guān)真空度是否在正常范圍內(nèi)，同時更重要的是，對某些泄漏速度較快的真空開關(guān)，通過歷年測量結(jié)果相比較，可以大致推斷它的壽命，真正起到預(yù)防意外事故發(fā)生的目的。
二.主要特點(diǎn)：
1、可定量測量各種型號真空開關(guān)滅弧室內(nèi)的真空度；
2、現(xiàn)場測量時不需拆卸真空開關(guān)；
3、測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠；
4、液晶漢字顯示，操作更加簡單方便；
5、可保存、打印、查看測試的試驗(yàn)數(shù)據(jù)；
6、儀器帶有RS232通訊接口，可以連接計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)真空度-離子電流曲線下載、壽命估計(jì)等多種功能；
7、儀器重量輕，攜帶方便；
三.性能指標(biāo)：
1、電 源： AC220V+15%，50Hz；
2、測量范圍： 10-5～10-1Pa；
3、電場電壓∶18KV；
4、磁場電壓∶1600V；
5、儀器精度： 5%；
6、使用環(huán)境： -10℃～40℃；
7、外行尺寸：460mm×335mm×330mm。
8、主機(jī)重量：12kg；
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何測電力設(shè)備的介質(zhì)損耗因數(shù)其原理在前面已經(jīng)講過，tgδ是IR / IC的比值，它能反映電介質(zhì)內(nèi)單位體積中能量損耗的大小，只與電介質(zhì)的性質(zhì)有關(guān)，而與其體積大小尺寸均沒有關(guān)系。因此，tgδ的測試目的，也是能夠有效地發(fā)現(xiàn)設(shè)備絕緣的普遍老化、受潮、臟污等整體缺陷。對小電容設(shè)備，如套管、互感器（電容式）也能夠發(fā)現(xiàn)內(nèi)部是否存在氣隙及固定絕緣開裂等集中性的局部絕緣缺陷。
但要說明一點(diǎn)的是，針對大電容的設(shè)備如變壓器、電纜等進(jìn)行tgδ的測量時，只能發(fā)現(xiàn)他們的整體分布性缺陷，而其局部集中性的缺陷可能不會被發(fā)現(xiàn)；而對于套管、互感器等小電容量的設(shè)備，測tgδ能有效地發(fā)現(xiàn)其局部集中性和整體分布性的缺陷，詳見如下分析。這也是大型變壓器不僅要單獨(dú)測試引出線套管的tgδ，也要測套管連同繞組的介損tgδ，就是因?yàn)樘坠苋粲腥毕輹r在整體絕緣良好時不能體現(xiàn)出來。
一般設(shè)備的絕緣結(jié)構(gòu)都由多層絕緣、多種材料構(gòu)成。如局部有缺陷絕緣用C 1 tgδ1表示，其他良好絕緣用C 2tgδ2表示，兩部分并聯(lián)，則有P1 = C 1 tgδ1 P2 = C 2 tgδ2
而總的損耗為P = U2 ωC tgδ ①
U、ω一定時，P與C、tgδ有關(guān)， → P = C 1 tgδ1 + C 2 tgδ2 又C = C1 + C2
則 C 1 tgδ1 + C 2 tgδ2 = C tgδ
tgδ= （C 1 tgδ1 + C 2 tgδ2）/（C1 + C2） ②
若套管電容C 1= 250PF，tgδ1= 5% （超差）
而變壓器電容C 2= 10000PF，tgδ2= 0.4% （良好）
從②式可以看出總tgδ= 0.5 % （合格），可見明顯形成了誤判斷。
設(shè)備的選取及常規(guī)試驗(yàn)方法：因?yàn)榫群挽`敏度的原因，測變壓器和一般套管的介損時（包括電容式CT），應(yīng)采用HD6000A光導(dǎo)介損測試儀，而當(dāng)測試電容式PT電容量和tgδ時，可采用HD6000異頻介損測試儀，它介紹了CVT的中壓電容C 2 的測試方法，比較方便（自激法）。兩者的原理前者是通過比較內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)回路電流和被試品的電流的幅值及相互的相差，后者是電橋原理，離散傅立葉算法。一般接線形式主要有二種：正接法：適用于測量兩相對地絕緣的設(shè)備，測試精度較高，如套管和電容式CT的主絕緣tgδ，耦合電容的的tgδ等；反接法：適用于測量一級接地的設(shè)備，儀器的外殼必須接地可靠，如變壓器連同套管和繞組的tgδ，套管和電容式CT的末屏tgδ等。另外還有自激法，對角接線等，不同的試驗(yàn)設(shè)備均有不同的接線形式，取決于現(xiàn)場環(huán)境及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。
需要說明的是現(xiàn)場試驗(yàn)時要創(chuàng)造條件，力求測試精度，如主變高低壓側(cè)套管的tgδ測試必須要用正接法，應(yīng)要求安裝單位制作測試平臺，以達(dá)到兩極絕緣的條件。
對于CVT中壓電容的tgδ測試，應(yīng)充分理解儀器的操作程序，按照其說明，操作規(guī)程進(jìn)行試驗(yàn)。
交接規(guī)程的一般要求及條款：電力變壓器：當(dāng)電壓等級為35KV及以上，且容量在8000KVA以上時，應(yīng)測試tgδ，其tgδ值不應(yīng)大福州市真空開關(guān)真空度測試儀生產(chǎn)工廠福州市真空開關(guān)真空度測試儀生產(chǎn)工廠于產(chǎn)品出廠試驗(yàn)值的130%，對于300MW或600MW機(jī)組的廠高變，一般未達(dá)到上述要求，交接試驗(yàn)可不作；但一般廠家出廠試驗(yàn)均有該項(xiàng)目的數(shù)據(jù)，為充分體現(xiàn)對用戶負(fù)責(zé)的思想，建議測試以便比較，但不出試驗(yàn)報(bào)告。互感器：規(guī)定了20℃下電流互感器（油紙電容式）的tgδ，220KV≤0.6%，330KV≤0.5，500KV≤0.5。其電容與銘牌差值應(yīng)在±10%之內(nèi)，只針對主絕緣。而電壓互感器只規(guī)定了35KV及以上油浸式的tgδ值，35KV的20℃時≤3.5%，35KV以上的不應(yīng)大于出廠值的130%。套管：現(xiàn)場一般有油紙電容式，20-500KV下，tgδ≤0.7%，電容差值在±10%范圍內(nèi)。說明一點(diǎn)，不管電容式CT還是電容式套管，都會有末屏
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